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三维检测装置以及用于三维检测的方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201710450279.7
申请日
:
2017-06-15
公开(公告)号
:
CN108627512B
公开(公告)日
:
2018-10-09
发明(设计)人
:
李文宗
温光溥
林栋
申请人
:
申请人地址
:
中国台湾台北市士林区徳行西路45号7楼
IPC主分类号
:
G01N2184
IPC分类号
:
代理机构
:
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
:
徐金国
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-09-24
授权
授权
2018-10-09
公开
公开
2018-11-02
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/84 申请日:20170615
共 50 条
[1]
三维检测装置及三维检测方法
[P].
张鹏黎
论文数:
0
引用数:
0
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0
张鹏黎
;
王帆
论文数:
0
引用数:
0
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0
王帆
.
中国专利
:CN112748111B
,2021-05-04
[2]
三维物体检测装置以及三维物体检测方法
[P].
深田修
论文数:
0
引用数:
0
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0
深田修
;
早川泰久
论文数:
0
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0
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0
早川泰久
.
中国专利
:CN104509099A
,2015-04-08
[3]
三维物体检测装置以及三维物体检测方法
[P].
深田修
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
深田修
;
早川泰久
论文数:
0
引用数:
0
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0
早川泰久
.
中国专利
:CN104509100B
,2015-04-08
[4]
三维物体检测装置以及三维物体检测方法
[P].
早川泰久
论文数:
0
引用数:
0
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0
早川泰久
;
深田修
论文数:
0
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深田修
;
竹村雅幸
论文数:
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竹村雅幸
;
宇田川玲
论文数:
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宇田川玲
;
村松彰二
论文数:
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村松彰二
;
入江耕太
论文数:
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0
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0
入江耕太
.
中国专利
:CN104685866B
,2015-06-03
[5]
三维表面检测装置及三维表面检测方法
[P].
卢存伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
卢存伟
.
中国专利
:CN103075979B
,2013-05-01
[6]
三维检测装置
[P].
曹亮
论文数:
0
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曹亮
;
周之琪
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周之琪
;
尹兴
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尹兴
;
龚婷
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0
龚婷
.
中国专利
:CN206905713U
,2018-01-19
[7]
三维磁场检测元件及三维磁场检测装置
[P].
本蔵义信
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
本蔵义信
.
中国专利
:CN109844553A
,2019-06-04
[8]
三维集成芯片、三维集成芯片的测试方法以及检测装置
[P].
付妮
论文数:
0
引用数:
0
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0
付妮
.
中国专利
:CN114910779A
,2022-08-16
[9]
三维集成芯片、三维集成芯片的测试方法以及检测装置
[P].
付妮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安紫光国芯半导体股份有限公司
西安紫光国芯半导体股份有限公司
付妮
.
中国专利
:CN114910779B
,2025-09-02
[10]
三维物体检测装置和三维物体检测方法
[P].
早川泰久
论文数:
0
引用数:
0
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0
早川泰久
;
深田修
论文数:
0
引用数:
0
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0
深田修
.
中国专利
:CN104508726B
,2015-04-08
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