一种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法和系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111470028.8
申请日
2021-12-03
公开(公告)号
CN114253780A
公开(公告)日
2022-03-29
发明(设计)人
杨惠 周磊
申请人
申请人地址
215100 江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
IPC主分类号
G06F1122
IPC分类号
G11C2908
代理机构
济南诚智商标专利事务所有限公司 37105
代理人
李伟伟
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种硬盘性能测试方法、系统及装置 [P]. 
贠雄斌 .
中国专利 :CN111274078A ,2020-06-12
[2]
处理器系统和测试处理器系统的方法 [P]. 
瑟里·普里切 .
中国专利 :CN1245923A ,2000-03-01
[3]
嵌入式系统的处理器性能测试方法和装置 [P]. 
林双凤 .
中国专利 :CN101420341B ,2009-04-29
[4]
一种处理器性能测试方法、装置、设备和介质 [P]. 
肖垚 ;
蒋驰 ;
王旸 .
中国专利 :CN114676026A ,2022-06-28
[5]
一种基于dd的硬盘性能测试方法 [P]. 
赵伟 .
中国专利 :CN106095635A ,2016-11-09
[6]
一种处理器性能测试方法及装置 [P]. 
闫亚闯 .
中国专利 :CN112559269A ,2021-03-26
[7]
一种处理器性能测试方法及装置 [P]. 
闫亚闯 .
中国专利 :CN112559269B ,2024-12-20
[8]
一种基于iozone的硬盘性能测试的方法 [P]. 
闫硕 .
中国专利 :CN104809042A ,2015-07-29
[9]
一种硬盘性能测试方法和装置 [P]. 
李园园 .
中国专利 :CN112069003B ,2020-12-11
[10]
图形处理器硬件加速设备性能测试方法和系统 [P]. 
张波 ;
周国强 .
中国专利 :CN120596321B ,2025-10-10