学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法和系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111470028.8
申请日
:
2021-12-03
公开(公告)号
:
CN114253780A
公开(公告)日
:
2022-03-29
发明(设计)人
:
杨惠
周磊
申请人
:
申请人地址
:
215100 江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
IPC主分类号
:
G06F1122
IPC分类号
:
G11C2908
代理机构
:
济南诚智商标专利事务所有限公司 37105
代理人
:
李伟伟
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-29
公开
公开
2022-04-15
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20211203
共 50 条
[1]
一种硬盘性能测试方法、系统及装置
[P].
贠雄斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
贠雄斌
.
中国专利
:CN111274078A
,2020-06-12
[2]
处理器系统和测试处理器系统的方法
[P].
瑟里·普里切
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
瑟里·普里切
.
中国专利
:CN1245923A
,2000-03-01
[3]
嵌入式系统的处理器性能测试方法和装置
[P].
林双凤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林双凤
.
中国专利
:CN101420341B
,2009-04-29
[4]
一种处理器性能测试方法、装置、设备和介质
[P].
肖垚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
肖垚
;
蒋驰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒋驰
;
王旸
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王旸
.
中国专利
:CN114676026A
,2022-06-28
[5]
一种基于dd的硬盘性能测试方法
[P].
赵伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵伟
.
中国专利
:CN106095635A
,2016-11-09
[6]
一种处理器性能测试方法及装置
[P].
闫亚闯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
闫亚闯
.
中国专利
:CN112559269A
,2021-03-26
[7]
一种处理器性能测试方法及装置
[P].
闫亚闯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京安兔兔科技有限公司
北京安兔兔科技有限公司
闫亚闯
.
中国专利
:CN112559269B
,2024-12-20
[8]
一种基于iozone的硬盘性能测试的方法
[P].
闫硕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
闫硕
.
中国专利
:CN104809042A
,2015-07-29
[9]
一种硬盘性能测试方法和装置
[P].
李园园
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李园园
.
中国专利
:CN112069003B
,2020-12-11
[10]
图形处理器硬件加速设备性能测试方法和系统
[P].
张波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
瀚博半导体(上海)股份有限公司
瀚博半导体(上海)股份有限公司
张波
;
周国强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
瀚博半导体(上海)股份有限公司
瀚博半导体(上海)股份有限公司
周国强
.
中国专利
:CN120596321B
,2025-10-10
←
1
2
3
4
5
→