一种硬盘性能测试方法、系统及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010108473.9
申请日
2020-02-21
公开(公告)号
CN111274078A
公开(公告)日
2020-06-12
发明(设计)人
贠雄斌
申请人
申请人地址
215100 江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
IPC主分类号
G06F1122
IPC分类号
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
侯珊
法律状态
发明专利申请公布后的撤回
国省代码
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共 50 条
[1]
一种硬盘性能测试方法、装置、设备及介质 [P]. 
樊淋杰 ;
刘伯书 .
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[2]
一种基于AMD处理器的硬盘性能测试方法和系统 [P]. 
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[3]
一种硬盘性能测试方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
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田溢丰 .
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[4]
一种提升固态硬盘性能的测试方法及装置 [P]. 
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[5]
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许飞 .
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[6]
硬盘性能测试方法及模拟硬盘 [P]. 
许飞 .
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[7]
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胡宝银 ;
侯龙 .
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[8]
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[9]
硬盘性能测试方法、系统和装置 [P]. 
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钟忻 .
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[10]
固态硬盘性能测试方法及装置 [P]. 
李创锋 ;
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