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光刻设备、用于光刻设备和方法中的定位系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201480037053.9
申请日
:
2014-06-26
公开(公告)号
:
CN105339845B
公开(公告)日
:
2016-02-17
发明(设计)人
:
R·M·韦斯特霍夫
H·L·哈根纳斯
U·舍恩霍夫
A·J·P·范恩格尔伦
申请人
:
申请人地址
:
荷兰维德霍温
IPC主分类号
:
G03F720
IPC分类号
:
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
张启程
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-06-26
授权
授权
2016-03-16
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101650138848 IPC(主分类):G03F 7/20 专利申请号:2014800370539 申请日:20140626
2016-02-17
公开
公开
共 50 条
[1]
定位系统、光刻设备和方法
[P].
J·范埃基科
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J·范埃基科
;
E·A·F·范德尔帕斯卡
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E·A·F·范德尔帕斯卡
;
J·P·M·B·沃麦尤伦
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J·P·M·B·沃麦尤伦
.
中国专利
:CN101989050A
,2011-03-23
[2]
定位系统和光刻设备
[P].
K·F·巴斯特拉安
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K·F·巴斯特拉安
;
Y-S·黄
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Y-S·黄
;
A·F·J·德格罗特
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A·F·J·德格罗特
;
M·金姆
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M·金姆
;
J·A·F·M·西蒙斯
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J·A·F·M·西蒙斯
;
T·A·M·瑞杰尔
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T·A·M·瑞杰尔
;
R·J·M·拉默斯
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R·J·M·拉默斯
.
中国专利
:CN109690407A
,2019-04-26
[3]
用于光刻设备的定位系统
[P].
M·H·基曼
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M·H·基曼
;
J·韦瑟林
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J·韦瑟林
.
中国专利
:CN111868631A
,2020-10-30
[4]
定位系统、光刻设备和用于定位控制的方法
[P].
汉斯·巴特勒
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汉斯·巴特勒
;
亨瑞克斯·赫尔曼·玛丽·考克斯
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亨瑞克斯·赫尔曼·玛丽·考克斯
.
中国专利
:CN102566300A
,2012-07-11
[5]
光刻设备、定位系统以及定位方法
[P].
E·M·J·斯密特思
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E·M·J·斯密特思
.
中国专利
:CN101866115B
,2010-10-20
[6]
定位系统、光刻设备和器件制造方法
[P].
H·巴特勒
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H·巴特勒
;
M·A·W·苏吉皮尔斯
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M·A·W·苏吉皮尔斯
;
C·A·胡根达姆
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C·A·胡根达姆
;
R·J·M·德琼
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R·J·M·德琼
;
M·J·M·林肯斯
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M·J·M·林肯斯
;
M·W·M·范德威吉斯特
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M·W·M·范德威吉斯特
;
M·W·J·E·威吉克曼斯
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M·W·J·E·威吉克曼斯
;
R·L·吐圣恩
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R·L·吐圣恩
;
R·P·H·法森
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R·P·H·法森
;
A·H·考沃埃特斯
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A·H·考沃埃特斯
.
中国专利
:CN101561642B
,2009-10-21
[7]
用于光刻系统的光刻校准设备、方法和光刻系统
[P].
钟景山
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机构:
之江实验室
之江实验室
钟景山
;
王智
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之江实验室
之江实验室
王智
;
庄文秀
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机构:
之江实验室
之江实验室
庄文秀
.
中国专利
:CN119828420A
,2025-04-15
[8]
光刻设备和操作光刻设备的方法
[P].
U.丁格
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U.丁格
;
M.霍尔兹
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M.霍尔兹
;
U.比尔
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U.比尔
.
中国专利
:CN107850851B
,2018-03-27
[9]
光刻设备、光刻设备中的盖和设计光刻设备中的盖的方法
[P].
N·J·J·罗塞特
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N·J·J·罗塞特
;
N·坦卡特
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N·坦卡特
;
S·舒勒波夫
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S·舒勒波夫
;
R·W·L·拉法瑞
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R·W·L·拉法瑞
.
中国专利
:CN102193333A
,2011-09-21
[10]
光刻设备和方法
[P].
H·本特勒
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H·本特勒
;
P·J·M·范吉尔斯
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P·J·M·范吉尔斯
.
中国专利
:CN101960387A
,2011-01-26
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