多测试类型探针卡和对应的测试系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810597490.6
申请日
2018-06-11
公开(公告)号
CN109037090A
公开(公告)日
2018-12-18
发明(设计)人
D·加纳波尔 M·戈尼亚 S·吴 M·雅各布斯
申请人
申请人地址
巴巴多斯圣米加勒
IPC主分类号
H01L2166
IPC分类号
代理机构
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
酆迅;董典红
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
探针卡测试系统和探针卡测试方法 [P]. 
金鹤龙 .
韩国专利 :CN119290907A ,2025-01-10
[2]
探针卡的测试电路的确定方法及探针卡测试系统 [P]. 
刘志华 ;
刘志广 .
中国专利 :CN121186571A ,2025-12-23
[3]
探针卡和测试系统 [P]. 
M·罗西 ;
S·M·雷纳 ;
G·卡尔卡特拉 .
中国专利 :CN207851121U ,2018-09-11
[4]
探针测试装置、探针测试系统和探针卡 [P]. 
花井寿佳 ;
谷村政明 ;
铃木浩司 .
日本专利 :CN120044280A ,2025-05-27
[5]
一种探针卡和使用它的多芯片测试系统 [P]. 
辜诗涛 .
中国专利 :CN202256409U ,2012-05-30
[6]
探针卡及探针卡接口和集成电路元件测试系统 [P]. 
徐家梧 .
中国专利 :CN203658412U ,2014-06-18
[7]
探针卡及测试系统 [P]. 
魏斯默 ;
杨峰 ;
黄建钦 .
中国专利 :CN117434316A ,2024-01-23
[8]
探针卡测试系统 [P]. 
桑浚之 ;
曾志敏 .
中国专利 :CN101162240A ,2008-04-16
[9]
探针卡和具有探针卡的测试设备 [P]. 
安奎重 .
韩国专利 :CN113156173B ,2024-09-20
[10]
探针卡和具有探针卡的测试设备 [P]. 
安奎重 .
中国专利 :CN113156173A ,2021-07-23