学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
探针卡和测试系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201721240983.1
申请日
:
2017-09-26
公开(公告)号
:
CN207851121U
公开(公告)日
:
2018-09-11
发明(设计)人
:
M·罗西
S·M·雷纳
G·卡尔卡特拉
申请人
:
申请人地址
:
意大利阿格拉布里安扎
IPC主分类号
:
G01R1073
IPC分类号
:
代理机构
:
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
:
王茂华
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-09-11
授权
授权
共 50 条
[1]
用于可磁致动器件的探针卡和包括探针卡的测试系统
[P].
M·罗西
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
M·罗西
;
S·M·雷纳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
S·M·雷纳
;
G·卡尔卡特拉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
G·卡尔卡特拉
.
中国专利
:CN108459180B
,2018-08-28
[2]
探针卡测试系统和探针卡测试方法
[P].
金鹤龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
细美事有限公司
细美事有限公司
金鹤龙
.
韩国专利
:CN119290907A
,2025-01-10
[3]
探针测试装置、探针测试系统和探针卡
[P].
花井寿佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
瑞萨电子株式会社
瑞萨电子株式会社
花井寿佳
;
谷村政明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
瑞萨电子株式会社
瑞萨电子株式会社
谷村政明
;
铃木浩司
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
瑞萨电子株式会社
瑞萨电子株式会社
铃木浩司
.
日本专利
:CN120044280A
,2025-05-27
[4]
探针卡测试系统
[P].
桑浚之
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
桑浚之
;
曾志敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曾志敏
.
中国专利
:CN101162240A
,2008-04-16
[5]
探针卡及测试系统
[P].
魏斯默
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
魏斯默
;
杨峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
杨峰
;
黄建钦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
黄建钦
.
中国专利
:CN117434316A
,2024-01-23
[6]
探针卡及测试系统
[P].
牛刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
牛刚
.
中国专利
:CN205374532U
,2016-07-06
[7]
探针卡及测试系统
[P].
牛刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
牛刚
.
中国专利
:CN206945761U
,2018-01-30
[8]
探针卡及探针卡接口和集成电路元件测试系统
[P].
徐家梧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐家梧
.
中国专利
:CN203658412U
,2014-06-18
[9]
多测试类型探针卡和对应的测试系统
[P].
D·加纳波尔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
D·加纳波尔
;
M·戈尼亚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
M·戈尼亚
;
S·吴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
S·吴
;
M·雅各布斯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
M·雅各布斯
.
中国专利
:CN109037090A
,2018-12-18
[10]
探针卡测试系统以及测试方法
[P].
徐兴光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美博科技(苏州)有限公司
美博科技(苏州)有限公司
徐兴光
;
王景峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美博科技(苏州)有限公司
美博科技(苏州)有限公司
王景峰
;
闫立民
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美博科技(苏州)有限公司
美博科技(苏州)有限公司
闫立民
.
中国专利
:CN120064918A
,2025-05-30
←
1
2
3
4
5
→