探针卡测试系统以及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510230613.2

申请日：

2025-02-28

公开(公告)号：

CN120064918A

公开(公告)日：

2025-05-30

发明(设计)人：

徐兴光王景峰闫立民

申请人：

美博科技（苏州）有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴中经开区城南街道南湖路58号4号楼

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

代理机构：

苏州京昀知识产权代理事务所(普通合伙) 32570

代理人：

段晓玲

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20250228
2025-05-30	公开	公开

共 50 条

[1]

探针卡测试系统和探针卡测试方法 [P].

金鹤龙 .

韩国专利 :CN119290907A ,2025-01-10

[2]

测试电路、探针卡、测试系统及测试方法 [P].

魏斯默 ;

杨峰 .

中国专利 :CN117706144A ,2024-03-15

[3]

探针卡以及芯片测试系统 [P].

李文敬 ;

祁建华 ;

余琨 ;

沈逸杰 .

中国专利 :CN117990962A ,2024-05-07

[4]

探针卡及测试系统 [P].

魏斯默 ;

杨峰 ;

黄建钦 .

中国专利 :CN117434316A ,2024-01-23

[5]

探针卡测试系统 [P].

桑浚之 ;

曾志敏 .

中国专利 :CN101162240A ,2008-04-16

[6]

测试结构、测试探针卡、测试系统及测试方法 [P].

竹敏 .

中国专利 :CN107367678B ,2017-11-21

[7]

探针测试装置、探针测试系统和探针卡 [P].

花井寿佳 ;

谷村政明 ;

铃木浩司 .

日本专利 :CN120044280A ,2025-05-27

[8]

探针卡测试方法 [P].

徐兴光 ;

王景峰 ;

闫立民 .

中国专利 :CN120028175A ,2025-05-23

[9]

探针板卡、探针测试系统以及探针测试方法 [P].

李文敬 ;

余琨 ;

吴一 ;

徐倩云 .

中国专利 :CN114384287A ,2022-04-22

[10]

探针卡的测试电路的确定方法及探针卡测试系统 [P].

刘志华 ;

刘志广 .

中国专利 :CN121186571A ,2025-12-23

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