尘埃检测系统及尘埃检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201310177641.X
申请日
2013-05-14
公开(公告)号
CN104157593B
公开(公告)日
2014-11-19
发明(设计)人
李兴华 王振辉
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
H01L2167
IPC分类号
H01J37317 H01J37244
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
屈蘅;李时云
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
尘埃浓度检测装置和尘埃浓度检测方法 [P]. 
聂泳忠 ;
林梅英 .
中国专利 :CN105784555A ,2016-07-20
[2]
高精度光电尘埃颗粒检测装置及检测方法 [P]. 
曲敬镭 ;
朱春灵 ;
张建式 .
中国专利 :CN105115880A ,2015-12-02
[3]
尘埃粒子检测系统及药粉灌装生产线 [P]. 
吴海涛 ;
杨东磊 ;
王择强 ;
赵奕辉 .
中国专利 :CN118464736A ,2024-08-09
[4]
高精度光电尘埃颗粒检测装置 [P]. 
曲敬镭 ;
朱春灵 ;
张建式 .
中国专利 :CN205003058U ,2016-01-27
[5]
一种尘埃粒子检测仪 [P]. 
陈国光 ;
马远武 .
中国专利 :CN113188963B ,2024-03-22
[6]
一种尘埃粒子检测仪 [P]. 
陈国光 ;
马远武 .
中国专利 :CN113188963A ,2021-07-30
[7]
一种室内空气尘埃粒子浓度检测方法 [P]. 
万桂波 ;
尹荣鑫 .
中国专利 :CN120009141A ,2025-05-16
[8]
半导体结构、检测方法及检测系统 [P]. 
陈彦樵 .
中国专利 :CN118425724A ,2024-08-02
[9]
检测系统、检测方法及检测设备 [P]. 
陈鲁 ;
方一 ;
黄有为 ;
魏林鹏 ;
张嵩 .
中国专利 :CN114624004A ,2022-06-14
[10]
半导体设备的检测系统及检测方法 [P]. 
张鹏 .
中国专利 :CN113977451A ,2022-01-28