一种基于FMCW的纳米级厚度测试系统及方法

被引:0
申请号
CN202210681430.9
申请日
2022-06-15
公开(公告)号
CN115014214A
公开(公告)日
2022-09-06
发明(设计)人
代冰
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市福田区园岭街道上林社区八卦三路88-8号清凤荣盛创投大厦805
IPC主分类号
G01B1106
IPC分类号
代理机构
北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465
代理人
符继超
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种基于LabVIEW的DOE光学性能测试系统及方法 [P]. 
奂微微 ;
薛军明 ;
顾良慧 ;
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邹峰 .
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[2]
一种基于双激光器发射的集成光纤测试系统及方法 [P]. 
张玉娇 ;
荣鹏 ;
陈典 ;
王志鹏 ;
莫文静 .
中国专利 :CN118764081A ,2024-10-11
[3]
具有纳米级分辨率的空间电荷测试系统及方法 [P]. 
张颖 ;
李悠 ;
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[4]
微纳米级原位纳米压痕刻划测试系统 [P]. 
赵宏伟 ;
黄虎 ;
曲兴田 ;
曲涵 ;
隋航 .
中国专利 :CN101876609A ,2010-11-03
[5]
微纳米级原位纳米压痕刻划测试系统 [P]. 
赵宏伟 ;
黄虎 ;
曲兴田 ;
曲涵 ;
隋航 .
中国专利 :CN201689021U ,2010-12-29
[6]
基于可调谐激光的光谱透过率测试系统及方法 [P]. 
刘华松 ;
何家欢 ;
樊荣伟 ;
季一勤 .
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[7]
纳米级间隙电火花放电测试系统及方法 [P]. 
佟浩 ;
权冉 ;
孔全存 ;
李勇 ;
李俊杰 .
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[8]
一种基于RSOA的FBG传感解调装置及方法 [P]. 
张治国 ;
陈雪 ;
张民 ;
王立芊 .
中国专利 :CN102645235A ,2012-08-22
[9]
一种纳米级波带片成像分辨率测试的方法及装置 [P]. 
王山峰 ;
袁清习 ;
张凯 ;
黄万霞 .
中国专利 :CN111721784A ,2020-09-29
[10]
基于光强检测的调频激光测距系统快速调焦装置及方法 [P]. 
郭天茂 ;
刘柯 ;
滕晓 ;
鲍晨兴 ;
王晓光 .
中国专利 :CN112505655A ,2021-03-16