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半导体测试设备及其工作方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910472301.7
申请日：
2019-05-31
公开(公告)号：
CN110133469A
公开(公告)日：
2019-08-16
发明(设计)人：
于岑松
侯天宇
何雪纯
高翔
申请人：
申请人地址：
223302 江苏省淮安市淮阴区长江东路599号
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
代理机构：
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人：
徐文欣;吴敏
法律状态：
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-07-15 | 发明专利申请公布后的视为撤回 | 发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R 31/26 申请公布日:20190816 |
| 2019-08-16 | 公开 | 公开 |
| 2019-09-10 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20190531 |