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大信号应用的器件模型参数提取方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201410464729.4
申请日
:
2014-09-12
公开(公告)号
:
CN105468803A
公开(公告)日
:
2016-04-06
发明(设计)人
:
范象泉
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
IPC主分类号
:
G06F1750
IPC分类号
:
代理机构
:
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
:
郑玮
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-04-06
公开
公开
2016-05-04
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101658479837 IPC(主分类):G06F 17/50 专利申请号:2014104647294 申请日:20140912
2018-07-20
授权
授权
共 50 条
[1]
IGBT物理模型参数提取方法
[P].
罗毅飞
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罗毅飞
;
肖飞
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肖飞
;
刘宾礼
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刘宾礼
;
黄永乐
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黄永乐
;
李鑫
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李鑫
;
段耀强
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段耀强
;
普靖
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普靖
;
熊又星
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熊又星
.
中国专利
:CN110502805A
,2019-11-26
[2]
基于迁移学习的射频器件行为模型参数提取方法
[P].
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机构:
苏江涛
.
中国专利
:CN119623234A
,2025-03-14
[3]
器件模型参数提取、选型方法和电子设备
[P].
蔡步森
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机构:
浙江宇视科技有限公司
浙江宇视科技有限公司
蔡步森
;
陈欢洋
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机构:
浙江宇视科技有限公司
浙江宇视科技有限公司
陈欢洋
.
中国专利
:CN120124554A
,2025-06-10
[4]
半导体器件的模型参数提取方法及装置
[P].
张飞翔
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机构:
上海集成电路研发中心有限公司
上海集成电路研发中心有限公司
张飞翔
;
余学儒
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机构:
上海集成电路研发中心有限公司
上海集成电路研发中心有限公司
余学儒
;
李琛
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机构:
上海集成电路研发中心有限公司
上海集成电路研发中心有限公司
李琛
;
陈保安
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机构:
上海集成电路研发中心有限公司
上海集成电路研发中心有限公司
陈保安
;
张娟
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机构:
上海集成电路研发中心有限公司
上海集成电路研发中心有限公司
张娟
.
中国专利
:CN120180846A
,2025-06-20
[5]
器件等效电路模型参数提取方法及焊盘寄生参数提取方法
[P].
唐旭升
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唐旭升
;
黄风义
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黄风义
;
张有明
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张有明
;
李剑宏
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李剑宏
;
杨江
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杨江
.
中国专利
:CN104298837B
,2017-06-13
[6]
用于MOSFET器件模型参数提取的方法及装置
[P].
卜建辉
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卜建辉
;
李莹
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李莹
;
罗家俊
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罗家俊
;
韩郑生
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韩郑生
.
中国专利
:CN107238786B
,2017-10-10
[7]
模型参数提取的方法和装置
[P].
三浦规之
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三浦规之
.
中国专利
:CN1098502C
,1998-11-04
[8]
集成电路器件的紧凑模型参数提取模型的构建方法及应用
[P].
王兴晟
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
王兴晟
;
彭治梁
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
彭治梁
;
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机构:
袁正午
;
王奕琛
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
王奕琛
;
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机构:
缪向水
.
中国专利
:CN118033385B
,2024-06-07
[9]
集成电路器件的紧凑模型参数提取模型的构建方法及应用
[P].
王兴晟
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
王兴晟
;
彭治梁
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
彭治梁
;
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机构:
袁正午
;
王奕琛
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
王奕琛
;
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机构:
缪向水
.
中国专利
:CN118033385A
,2024-05-14
[10]
一种OLED模型参数提取的方法
[P].
张万鑫
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张万鑫
;
杨思琪
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杨思琪
;
李翡
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李翡
;
刘伟平
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刘伟平
.
中国专利
:CN111079238B
,2020-04-28
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