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自动分析装置及自动分析方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201180030850.0
申请日
:
2011-06-15
公开(公告)号
:
CN103003684A
公开(公告)日
:
2013-03-27
发明(设计)人
:
田村太久夫
芝正树
足立作一郎
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01N2151
IPC分类号
:
G01N3500
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
王亚爱
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-01-20
授权
授权
2013-03-27
公开
公开
2013-04-24
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101444324986 IPC(主分类):G01N 21/51 专利申请号:2011800308500 申请日:20110615
共 50 条
[1]
自动分析装置以及自动分析方法
[P].
足立作一郎
论文数:
0
引用数:
0
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0
足立作一郎
;
山崎创
论文数:
0
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山崎创
;
饭岛昌彦
论文数:
0
引用数:
0
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0
饭岛昌彦
.
中国专利
:CN104471381A
,2015-03-25
[2]
自动分析装置、自动分析方法
[P].
垂水信二
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0
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0
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0
垂水信二
;
薮谷千枝
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0
薮谷千枝
;
牧野彰久
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0
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牧野彰久
;
万里千裕
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0
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0
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0
万里千裕
;
光山训
论文数:
0
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0
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0
光山训
.
中国专利
:CN104797940A
,2015-07-22
[3]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
伊藤匠
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0
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伊藤匠
;
东信二
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0
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0
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东信二
;
深谷昌史
论文数:
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0
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深谷昌史
.
中国专利
:CN110036296A
,2019-07-19
[4]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
小松英展
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小松英展
;
神原克宏
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神原克宏
;
川原铁士
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川原铁士
;
和田健太郎
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0
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和田健太郎
.
中国专利
:CN102292645A
,2011-12-21
[5]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
山内晶登
论文数:
0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
山内晶登
;
森高通
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
森高通
;
高桥健一
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0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
高桥健一
.
日本专利
:CN117677852A
,2024-03-08
[6]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
风间佑斗
论文数:
0
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风间佑斗
;
饭岛昌彦
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饭岛昌彦
;
足立作一郎
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足立作一郎
.
中国专利
:CN113281284A
,2021-08-20
[7]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
黄泳
论文数:
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黄泳
;
王晶
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0
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0
王晶
.
中国专利
:CN115684619A
,2023-02-03
[8]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
约翰·李
论文数:
0
引用数:
0
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0
约翰·李
.
中国专利
:CN104345158A
,2015-02-11
[9]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
中村浩希
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
中村浩希
;
新田裕明
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
新田裕明
;
萩原孝明
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
萩原孝明
.
日本专利
:CN120731371A
,2025-09-30
[10]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
福山美智子
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
福山美智子
;
薮谷千枝
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
薮谷千枝
.
日本专利
:CN118679390A
,2024-09-20
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