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自动分析装置及自动分析方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202480012041.4
申请日
:
2024-07-04
公开(公告)号
:
CN120731371A
公开(公告)日
:
2025-09-30
发明(设计)人
:
中村浩希
新田裕明
萩原孝明
申请人
:
株式会社日立高新技术
申请人地址
:
日本东京
IPC主分类号
:
G01N35/02
IPC分类号
:
G01N35/00
G01N35/04
代理机构
:
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人
:
俞丹;宋俊寅
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-30
公开
公开
2025-10-21
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 35/02申请日:20240704
共 50 条
[1]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
伊藤匠
论文数:
0
引用数:
0
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0
伊藤匠
;
东信二
论文数:
0
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0
东信二
;
深谷昌史
论文数:
0
引用数:
0
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0
深谷昌史
.
中国专利
:CN110036296A
,2019-07-19
[2]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
小松英展
论文数:
0
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0
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0
小松英展
;
神原克宏
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0
神原克宏
;
川原铁士
论文数:
0
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0
川原铁士
;
和田健太郎
论文数:
0
引用数:
0
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0
和田健太郎
.
中国专利
:CN102292645A
,2011-12-21
[3]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
山内晶登
论文数:
0
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0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
山内晶登
;
森高通
论文数:
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
森高通
;
高桥健一
论文数:
0
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0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
高桥健一
.
日本专利
:CN117677852A
,2024-03-08
[4]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
风间佑斗
论文数:
0
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风间佑斗
;
饭岛昌彦
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饭岛昌彦
;
足立作一郎
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足立作一郎
.
中国专利
:CN113281284A
,2021-08-20
[5]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
黄泳
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黄泳
;
王晶
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王晶
.
中国专利
:CN115684619A
,2023-02-03
[6]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
约翰·李
论文数:
0
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0
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0
约翰·李
.
中国专利
:CN104345158A
,2015-02-11
[7]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
田村太久夫
论文数:
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田村太久夫
;
芝正树
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芝正树
;
足立作一郎
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0
足立作一郎
.
中国专利
:CN103003684A
,2013-03-27
[8]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
福山美智子
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
福山美智子
;
薮谷千枝
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
薮谷千枝
.
日本专利
:CN118679390A
,2024-09-20
[9]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
江口纱央里
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
江口纱央里
;
高仓树
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
高仓树
;
梅木博也
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
梅木博也
;
安力川真美
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
安力川真美
.
日本专利
:CN120752537A
,2025-10-03
[10]
自动分析装置及自动分析方法
[P].
黄泳
论文数:
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黄泳
;
王晶
论文数:
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0
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0
王晶
.
中国专利
:CN115684618A
,2023-02-03
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