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推力测试治具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202020596873.4
申请日
:
2020-04-20
公开(公告)号
:
CN212082683U
公开(公告)日
:
2020-12-04
发明(设计)人
:
刘顺强
叶永灿
吴祥中
彭友
申请人
:
申请人地址
:
516006 广东省惠州市仲恺高新区东江高新科技产业园兴德东路2号
IPC主分类号
:
G01L500
IPC分类号
:
代理机构
:
广州市华学知识产权代理有限公司 44245
代理人
:
梁睦宇
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-12-04
授权
授权
共 50 条
[1]
推力测试治具
[P].
葛海洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
葛海洋
.
中国专利
:CN202041333U
,2011-11-16
[2]
牙孔推力测试治具
[P].
陈荣
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈荣
.
中国专利
:CN204373822U
,2015-06-03
[3]
半自动推力测试治具
[P].
葛海洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
葛海洋
.
中国专利
:CN202041331U
,2011-11-16
[4]
耳机外壳推力测试治具
[P].
朱成钢
论文数:
0
引用数:
0
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0
朱成钢
.
中国专利
:CN212932226U
,2021-04-09
[5]
镜筒产品推力测试治具
[P].
黄信智
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄信智
.
中国专利
:CN208537071U
,2019-02-22
[6]
测试高温HAF推力的新型治具
[P].
赵宣利
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州领裕电子科技有限公司
苏州领裕电子科技有限公司
赵宣利
.
中国专利
:CN223217214U
,2025-08-12
[7]
芯片推力测试治具
[P].
陈学峰
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州固锝电子股份有限公司
苏州固锝电子股份有限公司
陈学峰
;
郑志荣
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州固锝电子股份有限公司
苏州固锝电子股份有限公司
郑志荣
;
樊志华
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州固锝电子股份有限公司
苏州固锝电子股份有限公司
樊志华
.
中国专利
:CN220893622U
,2024-05-03
[8]
推力测试治具及芯片装片推力测试方法
[P].
袁浩
论文数:
0
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0
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0
机构:
矽磐微电子(重庆)有限公司
矽磐微电子(重庆)有限公司
袁浩
.
中国专利
:CN114323379B
,2024-05-24
[9]
推力测试治具及芯片装片推力测试方法
[P].
袁浩
论文数:
0
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0
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0
袁浩
.
中国专利
:CN114323379A
,2022-04-12
[10]
一种推力测试治具
[P].
刘传禄
论文数:
0
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刘传禄
;
黄柄盛
论文数:
0
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黄柄盛
;
杨齐
论文数:
0
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0
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杨齐
;
舒敏利
论文数:
0
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0
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舒敏利
.
中国专利
:CN218455641U
,2023-02-07
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