推力测试治具

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专利类型
实用新型
申请号
CN202020596873.4
申请日
2020-04-20
公开(公告)号
CN212082683U
公开(公告)日
2020-12-04
发明(设计)人
刘顺强 叶永灿 吴祥中 彭友
申请人
申请人地址
516006 广东省惠州市仲恺高新区东江高新科技产业园兴德东路2号
IPC主分类号
G01L500
IPC分类号
代理机构
广州市华学知识产权代理有限公司 44245
代理人
梁睦宇
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
推力测试治具 [P]. 
葛海洋 .
中国专利 :CN202041333U ,2011-11-16
[2]
牙孔推力测试治具 [P]. 
陈荣 .
中国专利 :CN204373822U ,2015-06-03
[3]
半自动推力测试治具 [P]. 
葛海洋 .
中国专利 :CN202041331U ,2011-11-16
[4]
耳机外壳推力测试治具 [P]. 
朱成钢 .
中国专利 :CN212932226U ,2021-04-09
[5]
镜筒产品推力测试治具 [P]. 
黄信智 .
中国专利 :CN208537071U ,2019-02-22
[6]
测试高温HAF推力的新型治具 [P]. 
赵宣利 .
中国专利 :CN223217214U ,2025-08-12
[7]
芯片推力测试治具 [P]. 
陈学峰 ;
郑志荣 ;
樊志华 .
中国专利 :CN220893622U ,2024-05-03
[8]
推力测试治具及芯片装片推力测试方法 [P]. 
袁浩 .
中国专利 :CN114323379B ,2024-05-24
[9]
推力测试治具及芯片装片推力测试方法 [P]. 
袁浩 .
中国专利 :CN114323379A ,2022-04-12
[10]
一种推力测试治具 [P]. 
刘传禄 ;
黄柄盛 ;
杨齐 ;
舒敏利 .
中国专利 :CN218455641U ,2023-02-07