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推力测试治具及芯片装片推力测试方法
被引：0
申请号：
CN202011064408.7
申请日：
2020-09-30
公开(公告)号：
CN114323379A
公开(公告)日：
2022-04-12
发明(设计)人：
袁浩
申请人：
申请人地址：
401331 重庆市沙坪坝区西永大道25号C栋
IPC主分类号：
G01L500
IPC分类号：
H01L2167
代理机构：
北京博思佳知识产权代理有限公司 11415
代理人：
曾莺华
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-04-12 | 公开 | 公开 |
| 2022-04-29 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01L 5/00 申请日:20200930 |