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测试控制电路、使用其的半导体存储装置和半导体系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201810994278.3
申请日：
2018-08-29
公开(公告)号：
CN109949855A
公开(公告)日：
2019-06-28
发明(设计)人：
蔡行善
申请人：
申请人地址：
韩国京畿道
IPC主分类号：
G11C2956
IPC分类号：
代理机构：
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363
代理人：
许伟群;郭放
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-06-28 | 公开 | 公开 |
| 2019-07-23 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20180829 |