一种半导体晶圆测试探针夹具

被引:0
申请号
CN202122524640.0
申请日
2021-10-20
公开(公告)号
CN216900627U
公开(公告)日
2022-07-05
发明(设计)人
阮永红
申请人
申请人地址
516000 广东省惠州市仲恺高新区50号小区厂房B五楼
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
H01L2166
代理机构
深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525
代理人
韩敏
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种半导体晶圆测试探针台 [P]. 
章福旻 .
中国专利 :CN221446167U ,2024-07-30
[2]
一种半导体晶圆测试探针台 [P]. 
李超翰 ;
谢建平 ;
袁超 .
中国专利 :CN114384283A ,2022-04-22
[3]
一种晶圆测试探针用夹具 [P]. 
罗强 ;
胡少辉 ;
罗丽芳 ;
杨慧芳 .
中国专利 :CN217143567U ,2022-08-09
[4]
一种磁吸式半导体晶圆测试探针 [P]. 
俞玲瑶 .
中国专利 :CN114527306A ,2022-05-24
[5]
一种晶圆测试探针 [P]. 
刘丽娜 .
中国专利 :CN205374531U ,2016-07-06
[6]
晶圆测试探针卡 [P]. 
刘家铭 ;
张孝仁 ;
苏华庭 .
中国专利 :CN210604725U ,2020-05-22
[7]
晶圆测试探针卡 [P]. 
吴梦丽 .
中国专利 :CN217007432U ,2022-07-19
[8]
晶圆测试探针卡 [P]. 
马金明 .
中国专利 :CN203011961U ,2013-06-19
[9]
晶圆测试探针卡 [P]. 
刘家铭 ;
张孝仁 ;
苏华庭 .
中国专利 :CN211206583U ,2020-08-07
[10]
晶圆测试探针卡 [P]. 
刘家铭 ;
张孝仁 ;
苏华庭 .
中国专利 :CN210427646U ,2020-04-28