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一种半导体晶圆测试探针夹具
被引:0
申请号
:
CN202122524640.0
申请日
:
2021-10-20
公开(公告)号
:
CN216900627U
公开(公告)日
:
2022-07-05
发明(设计)人
:
阮永红
申请人
:
申请人地址
:
516000 广东省惠州市仲恺高新区50号小区厂房B五楼
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
H01L2166
代理机构
:
深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525
代理人
:
韩敏
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-07-05
授权
授权
共 50 条
[1]
一种半导体晶圆测试探针台
[P].
章福旻
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
合肥精智达集成电路技术有限公司
合肥精智达集成电路技术有限公司
章福旻
.
中国专利
:CN221446167U
,2024-07-30
[2]
一种半导体晶圆测试探针台
[P].
李超翰
论文数:
0
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0
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0
李超翰
;
谢建平
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谢建平
;
袁超
论文数:
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0
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0
袁超
.
中国专利
:CN114384283A
,2022-04-22
[3]
一种晶圆测试探针用夹具
[P].
罗强
论文数:
0
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罗强
;
胡少辉
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胡少辉
;
罗丽芳
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罗丽芳
;
杨慧芳
论文数:
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杨慧芳
.
中国专利
:CN217143567U
,2022-08-09
[4]
一种磁吸式半导体晶圆测试探针
[P].
俞玲瑶
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0
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0
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0
俞玲瑶
.
中国专利
:CN114527306A
,2022-05-24
[5]
一种晶圆测试探针
[P].
刘丽娜
论文数:
0
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0
刘丽娜
.
中国专利
:CN205374531U
,2016-07-06
[6]
晶圆测试探针卡
[P].
刘家铭
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刘家铭
;
张孝仁
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张孝仁
;
苏华庭
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苏华庭
.
中国专利
:CN210604725U
,2020-05-22
[7]
晶圆测试探针卡
[P].
吴梦丽
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0
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吴梦丽
.
中国专利
:CN217007432U
,2022-07-19
[8]
晶圆测试探针卡
[P].
马金明
论文数:
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0
马金明
.
中国专利
:CN203011961U
,2013-06-19
[9]
晶圆测试探针卡
[P].
刘家铭
论文数:
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刘家铭
;
张孝仁
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张孝仁
;
苏华庭
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苏华庭
.
中国专利
:CN211206583U
,2020-08-07
[10]
晶圆测试探针卡
[P].
刘家铭
论文数:
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刘家铭
;
张孝仁
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张孝仁
;
苏华庭
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苏华庭
.
中国专利
:CN210427646U
,2020-04-28
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