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一种半导体晶圆测试探针台
被引:0
申请号
:
CN202210062853.2
申请日
:
2022-01-20
公开(公告)号
:
CN114384283A
公开(公告)日
:
2022-04-22
发明(设计)人
:
李超翰
谢建平
袁超
申请人
:
申请人地址
:
312000 浙江省绍兴市越城区群贤路与中兴大道东南角一楼107室
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
G01R1067
代理机构
:
南京普睿益思知识产权代理事务所(普通合伙) 32475
代理人
:
李杰
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-05-10
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20220120
2022-04-22
公开
公开
共 50 条
[1]
一种半导体晶圆测试探针台
[P].
章福旻
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥精智达集成电路技术有限公司
合肥精智达集成电路技术有限公司
章福旻
.
中国专利
:CN221446167U
,2024-07-30
[2]
一种半导体晶圆测试探针夹具
[P].
阮永红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
阮永红
.
中国专利
:CN216900627U
,2022-07-05
[3]
一种磁吸式半导体晶圆测试探针
[P].
俞玲瑶
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
俞玲瑶
.
中国专利
:CN114527306A
,2022-05-24
[4]
一种晶圆测试探针台
[P].
刘旭峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘旭峰
.
中国专利
:CN111198285B
,2020-05-26
[5]
晶圆测试探针台
[P].
胡耿涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
胡耿涛
;
洪漫龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
洪漫龙
.
中国专利
:CN307678635S
,2022-11-22
[6]
一种晶圆测试探针台
[P].
季建松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江阴佳泰电子科技有限公司
江阴佳泰电子科技有限公司
季建松
.
中国专利
:CN120370004A
,2025-07-25
[7]
一种晶圆测试探针台及设备
[P].
刘旭峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘旭峰
.
中国专利
:CN210071890U
,2020-02-14
[8]
晶圆测试探针台及其测试方法
[P].
顾汉玉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
顾汉玉
.
中国专利
:CN105470158A
,2016-04-06
[9]
晶圆测试探针台及其测试方法
[P].
钟良
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
钟良
.
中国专利
:CN113985084A
,2022-01-28
[10]
一种晶圆测试探针
[P].
刘丽娜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘丽娜
.
中国专利
:CN205374531U
,2016-07-06
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