一种半导体晶圆测试探针台

被引:0
申请号
CN202210062853.2
申请日
2022-01-20
公开(公告)号
CN114384283A
公开(公告)日
2022-04-22
发明(设计)人
李超翰 谢建平 袁超
申请人
申请人地址
312000 浙江省绍兴市越城区群贤路与中兴大道东南角一楼107室
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R1067
代理机构
南京普睿益思知识产权代理事务所(普通合伙) 32475
代理人
李杰
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体晶圆测试探针台 [P]. 
章福旻 .
中国专利 :CN221446167U ,2024-07-30
[2]
一种半导体晶圆测试探针夹具 [P]. 
阮永红 .
中国专利 :CN216900627U ,2022-07-05
[3]
一种磁吸式半导体晶圆测试探针 [P]. 
俞玲瑶 .
中国专利 :CN114527306A ,2022-05-24
[4]
一种晶圆测试探针台 [P]. 
刘旭峰 .
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[5]
晶圆测试探针台 [P]. 
胡耿涛 ;
洪漫龙 .
中国专利 :CN307678635S ,2022-11-22
[6]
一种晶圆测试探针台 [P]. 
季建松 .
中国专利 :CN120370004A ,2025-07-25
[7]
一种晶圆测试探针台及设备 [P]. 
刘旭峰 .
中国专利 :CN210071890U ,2020-02-14
[8]
晶圆测试探针台及其测试方法 [P]. 
顾汉玉 .
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[9]
晶圆测试探针台及其测试方法 [P]. 
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中国专利 :CN113985084A ,2022-01-28
[10]
一种晶圆测试探针 [P]. 
刘丽娜 .
中国专利 :CN205374531U ,2016-07-06