一种晶圆测试探针台

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811372333.1
申请日
2018-11-16
公开(公告)号
CN111198285B
公开(公告)日
2020-05-26
发明(设计)人
刘旭峰
申请人
申请人地址
311501 浙江省杭州市桐庐县桐庐经济开发区求是路299号A1号楼
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
代理机构
北京市广友专利事务所有限责任公司 11237
代理人
祁献民
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种晶圆测试探针台及设备 [P]. 
刘旭峰 .
中国专利 :CN210071890U ,2020-02-14
[2]
晶圆测试探针台 [P]. 
胡耿涛 ;
洪漫龙 .
中国专利 :CN307678635S ,2022-11-22
[3]
一种晶圆测试探针台 [P]. 
季建松 .
中国专利 :CN120370004A ,2025-07-25
[4]
晶圆测试探针和测试设备 [P]. 
何正鸿 ;
陶毅 ;
田旭 ;
陈泽 .
中国专利 :CN221595089U ,2024-08-23
[5]
一种半导体晶圆测试探针台 [P]. 
李超翰 ;
谢建平 ;
袁超 .
中国专利 :CN114384283A ,2022-04-22
[6]
一种半导体晶圆测试探针台 [P]. 
章福旻 .
中国专利 :CN221446167U ,2024-07-30
[7]
晶圆测试探针台及其测试方法 [P]. 
顾汉玉 .
中国专利 :CN105470158A ,2016-04-06
[8]
晶圆测试探针台及其测试方法 [P]. 
钟良 .
中国专利 :CN113985084A ,2022-01-28
[9]
一种晶圆测试探针 [P]. 
刘丽娜 .
中国专利 :CN205374531U ,2016-07-06
[10]
一种晶圆测试探针台及其测试方法 [P]. 
闫留伟 .
中国专利 :CN114355155A ,2022-04-15