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一种晶圆测试探针台

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510507765.2
申请日：
2025-04-22
公开(公告)号：
CN120370004A
公开(公告)日：
2025-07-25
发明(设计)人：
季建松
申请人：
江阴佳泰电子科技有限公司
申请人地址：
214400 江苏省无锡市江阴市临港新城璜土镇迎宾东路33号
IPC主分类号：
G01R1/073
IPC分类号：
G01R1/04
代理机构：
代理人：
法律状态：
公开
国省代码：
江苏省 无锡市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-25 公开 公开
2025-08-12 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/073申请日:20250422
共 50 条
[1]
晶圆测试探针台 [P]. 
胡耿涛 ;
洪漫龙 .
中国专利 :CN307678635S ,2022-11-22
[2]
一种晶圆测试探针台 [P]. 
刘旭峰 .
中国专利 :CN111198285B ,2020-05-26
[3]
晶圆测试探针台及其测试方法 [P]. 
顾汉玉 .
中国专利 :CN105470158A ,2016-04-06
[4]
晶圆测试探针台及其测试方法 [P]. 
钟良 .
中国专利 :CN113985084A ,2022-01-28
[5]
一种晶圆测试探针 [P]. 
刘丽娜 .
中国专利 :CN205374531U ,2016-07-06
[6]
一种晶圆测试探针台及其测试方法 [P]. 
闫留伟 .
中国专利 :CN114355155A ,2022-04-15
[7]
一种全自动晶圆测试探针台 [P]. 
乔金彪 ;
钟良 ;
高盼盼 .
中国专利 :CN113466665A ,2021-10-01
[8]
一种半导体晶圆测试探针台 [P]. 
李超翰 ;
谢建平 ;
袁超 .
中国专利 :CN114384283A ,2022-04-22
[9]
一种高精度晶圆测试探针台 [P]. 
李伙全 .
中国专利 :CN221841097U ,2024-10-15
[10]
一种晶圆测试探针台及设备 [P]. 
刘旭峰 .
中国专利 :CN210071890U ,2020-02-14
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