阻变存储器中金属氧化物层的形成方法

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专利类型
发明
申请号
CN201310217879.0
申请日
2013-06-03
公开(公告)号
CN103325941B
公开(公告)日
2013-09-25
发明(设计)人
吴华强 白越 吴明昊 钱鹤
申请人
申请人地址
100084 北京市海淀区100084-82信箱
IPC主分类号
H01L4500
IPC分类号
代理机构
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人
张大威
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
金属氧化物阻变存储器及制造方法 [P]. 
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[2]
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许毅胜 ;
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陈华伦 .
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[3]
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[4]
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[5]
金属氧化物层的形成 [P]. 
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[6]
具有金属氧化物涂层的引线框架及其形成方法 [P]. 
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[7]
一种掺杂金属氧化物的阻变式随机存取存储器及制备方法 [P]. 
沈棕杰 ;
赵春 ;
赵策洲 ;
杨莉 ;
罗天 ;
张艺 ;
黄彦博 .
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[8]
一种掺杂金属氧化物的阻变式随机存取存储器及制备方法 [P]. 
沈棕杰 ;
赵春 ;
赵策洲 ;
杨莉 ;
罗天 ;
张艺 ;
黄彦博 .
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[9]
蚀刻金属氧化物层的方法和形成金属氧化物层的相关方法 [P]. 
C·德泽拉 ;
P·罗梅罗 ;
B·维穆伦 ;
A·莱昂哈特 .
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[10]
电阻存储器的形成方法 [P]. 
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卢炯平 .
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