光学元件抛光表面质量声发射检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721711988.8

申请日：

2017-12-11

公开(公告)号：

CN207623289U

公开(公告)日：

2018-07-17

发明(设计)人：

朱忠奎郭文军江星星沈长青

申请人：

申请人地址：

215104 江苏省苏州市吴中区吴中大道1188号

IPC主分类号：

G01N2914

IPC分类号：

G01N2934

代理机构：

苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257

代理人：

杨慧林;冯瑞

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-17	授权	授权

共 50 条

[1]

高精度光学元件抛光表面质量检测装置 [P].

梁育强 .

中国专利 :CN215572759U ,2022-01-18

[2]

光学元件抛光表面质量全参数检测装置和检测方法 [P].

田爱玲 ;

王红军 ;

刘丙才 ;

王春慧 ;

王辉 ;

朱学亮 .

中国专利 :CN102425998A ,2012-04-25

[3]

声发射检测装置 [P].

曹鑫源 ;

牛建宇 ;

白亚奎 ;

鲁仰辉 .

中国专利 :CN216978946U ,2022-07-15

[4]

一种透明光学元件表面质量的检测装置 [P].

陈孟栅 ;

林觉鑫 ;

李超超 ;

万勇平 .

中国专利 :CN203838077U ,2014-09-17

[5]

一种声发射检测装置 [P].

高国旺 ;

马婷 .

中国专利 :CN222599582U ,2025-03-11

[6]

一种光学元件表面质量检测装置及其检测平台 [P].

李真雄 ;

张佳 ;

展亚伦 .

中国专利 :CN205426806U ,2016-08-03

[7]

表面质量检测装置 [P].

莫其策 .

中国专利 :CN215768272U ,2022-02-08

[8]

一种透明光学元件表面质量的检测装置 [P].

陈孟栅 ;

林觉鑫 ;

李超超 ;

万勇平 .

中国专利 :CN103926258B ,2014-07-16

[9]

一种光学元件表面质量检测镜头 [P].

王绍治 ;

刘健 ;

隋永新 ;

杨怀江 .

中国专利 :CN107687825A ,2018-02-13

[10]

抛光表面检测仪 [P].

王利杰 ;

冯玢 .

中国专利 :CN2482082Y ,2002-03-13

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