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一种透明光学元件表面质量的检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201420219303.8
申请日
:
2014-04-30
公开(公告)号
:
CN203838077U
公开(公告)日
:
2014-09-17
发明(设计)人
:
陈孟栅
林觉鑫
李超超
万勇平
申请人
:
申请人地址
:
318001 浙江省台州市椒江区市府大道东段201号椒江科创服务中心大楼十层西边
IPC主分类号
:
G01N21958
IPC分类号
:
代理机构
:
台州市方圆专利事务所 33107
代理人
:
蔡正保;林米良
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2014-09-17
授权
授权
共 50 条
[1]
一种透明光学元件表面质量的检测装置
[P].
陈孟栅
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陈孟栅
;
林觉鑫
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林觉鑫
;
李超超
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李超超
;
万勇平
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万勇平
.
中国专利
:CN103926258B
,2014-07-16
[2]
透明光学元件表面缺陷的检测装置
[P].
陈坚
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陈坚
;
吴周令
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吴周令
;
吴令奇
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吴令奇
;
黄明
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黄明
.
中国专利
:CN203069531U
,2013-07-17
[3]
光学元件抛光表面质量声发射检测装置
[P].
朱忠奎
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朱忠奎
;
郭文军
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郭文军
;
江星星
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江星星
;
沈长青
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沈长青
.
中国专利
:CN207623289U
,2018-07-17
[4]
一种光学元件表面质量检测装置及其检测平台
[P].
李真雄
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李真雄
;
张佳
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张佳
;
展亚伦
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展亚伦
.
中国专利
:CN205426806U
,2016-08-03
[5]
一种光学元件表面质量检测镜头
[P].
王绍治
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王绍治
;
刘健
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刘健
;
隋永新
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隋永新
;
杨怀江
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杨怀江
.
中国专利
:CN107687825A
,2018-02-13
[6]
透明光学元件表面缺陷信息检测装置及检测方法
[P].
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机构:
邵伟
;
张英鸽
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机构:
西安理工大学
西安理工大学
张英鸽
;
马婧怡
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机构:
西安理工大学
西安理工大学
马婧怡
;
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机构:
高瑞鹏
;
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机构:
千勃兴
;
曾强
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机构:
西安理工大学
西安理工大学
曾强
.
中国专利
:CN118501180A
,2024-08-16
[7]
高精度光学元件抛光表面质量检测装置
[P].
梁育强
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梁育强
.
中国专利
:CN215572759U
,2022-01-18
[8]
一种透明光学元件
[P].
娄飞
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娄飞
;
史瑞
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史瑞
;
孙佳怡
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孙佳怡
.
中国专利
:CN216622746U
,2022-05-27
[9]
一种光学元件表面质量角分辨检测装置及方法
[P].
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机构:
刘东
;
王劭文
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机构:
浙江大学
浙江大学
王劭文
;
郭世维
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机构:
浙江大学
浙江大学
郭世维
;
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机构:
王狮凌
;
张峰玮
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机构:
浙江大学
浙江大学
张峰玮
.
中国专利
:CN117761013B
,2024-09-13
[10]
透明光学元件表面缺陷的检测方法及装置
[P].
陈坚
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陈坚
;
吴周令
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吴周令
;
吴令奇
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吴令奇
;
黄明
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黄明
.
中国专利
:CN103105403A
,2013-05-15
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