一种透明光学元件表面质量的检测装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201420219303.8
申请日
2014-04-30
公开(公告)号
CN203838077U
公开(公告)日
2014-09-17
发明(设计)人
陈孟栅 林觉鑫 李超超 万勇平
申请人
申请人地址
318001 浙江省台州市椒江区市府大道东段201号椒江科创服务中心大楼十层西边
IPC主分类号
G01N21958
IPC分类号
代理机构
台州市方圆专利事务所 33107
代理人
蔡正保;林米良
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种透明光学元件表面质量的检测装置 [P]. 
陈孟栅 ;
林觉鑫 ;
李超超 ;
万勇平 .
中国专利 :CN103926258B ,2014-07-16
[2]
透明光学元件表面缺陷的检测装置 [P]. 
陈坚 ;
吴周令 ;
吴令奇 ;
黄明 .
中国专利 :CN203069531U ,2013-07-17
[3]
光学元件抛光表面质量声发射检测装置 [P]. 
朱忠奎 ;
郭文军 ;
江星星 ;
沈长青 .
中国专利 :CN207623289U ,2018-07-17
[4]
一种光学元件表面质量检测装置及其检测平台 [P]. 
李真雄 ;
张佳 ;
展亚伦 .
中国专利 :CN205426806U ,2016-08-03
[5]
一种光学元件表面质量检测镜头 [P]. 
王绍治 ;
刘健 ;
隋永新 ;
杨怀江 .
中国专利 :CN107687825A ,2018-02-13
[6]
透明光学元件表面缺陷信息检测装置及检测方法 [P]. 
邵伟 ;
张英鸽 ;
马婧怡 ;
高瑞鹏 ;
千勃兴 ;
曾强 .
中国专利 :CN118501180A ,2024-08-16
[7]
高精度光学元件抛光表面质量检测装置 [P]. 
梁育强 .
中国专利 :CN215572759U ,2022-01-18
[8]
一种透明光学元件 [P]. 
娄飞 ;
史瑞 ;
孙佳怡 .
中国专利 :CN216622746U ,2022-05-27
[9]
一种光学元件表面质量角分辨检测装置及方法 [P]. 
刘东 ;
王劭文 ;
郭世维 ;
王狮凌 ;
张峰玮 .
中国专利 :CN117761013B ,2024-09-13
[10]
透明光学元件表面缺陷的检测方法及装置 [P]. 
陈坚 ;
吴周令 ;
吴令奇 ;
黄明 .
中国专利 :CN103105403A ,2013-05-15