一种光学元件表面质量角分辨检测装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311717588.8

申请日：

2023-12-14

公开(公告)号：

CN117761013B

公开(公告)日：

2024-09-13

发明(设计)人：

刘东王劭文郭世维王狮凌张峰玮

申请人：

浙江大学

申请人地址：

310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

IPC主分类号：

G01N21/49

IPC分类号：

G01M11/02

代理机构：

杭州天勤知识产权代理有限公司 33224

代理人：

彭剑

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/49申请日:20231214
2024-03-26	公开	公开
2024-09-13	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学元件表面质量角分辨检测装置及方法 [P].

刘东 ;

王劭文 ;

郭世维 ;

王狮凌 ;

张峰玮 .

中国专利 :CN117761013A ,2024-03-26

[2]

一种光学元件表面质量检测镜头 [P].

王绍治 ;

刘健 ;

隋永新 ;

杨怀江 .

中国专利 :CN107687825A ,2018-02-13

[3]

一种透明光学元件表面质量的检测装置 [P].

陈孟栅 ;

林觉鑫 ;

李超超 ;

万勇平 .

中国专利 :CN103926258B ,2014-07-16

[4]

一种透明光学元件表面质量的检测装置 [P].

陈孟栅 ;

林觉鑫 ;

李超超 ;

万勇平 .

中国专利 :CN203838077U ,2014-09-17

[5]

光学元件抛光表面质量声发射检测装置 [P].

朱忠奎 ;

郭文军 ;

江星星 ;

沈长青 .

中国专利 :CN207623289U ,2018-07-17

[6]

一种平面光学元件表面质量快速检测装置及其方法 [P].

张彬 ;

钟哲强 ;

张科鹏 ;

黄聪 ;

张小民 .

中国专利 :CN109975319B ,2019-07-05

[7]

一种光学元件表面质量检测装置及其检测平台 [P].

李真雄 ;

张佳 ;

展亚伦 .

中国专利 :CN205426806U ,2016-08-03

[8]

光学元件抛光表面质量全参数检测装置和检测方法 [P].

田爱玲 ;

王红军 ;

刘丙才 ;

王春慧 ;

王辉 ;

朱学亮 .

中国专利 :CN102425998A ,2012-04-25

[9]

高精度光学元件抛光表面质量检测装置 [P].

梁育强 .

中国专利 :CN215572759U ,2022-01-18

[10]

表面质量检测装置 [P].

莫其策 .

中国专利 :CN215768272U ,2022-02-08

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