透明光学元件表面缺陷信息检测装置及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410623867.6

申请日：

2024-05-20

公开(公告)号：

CN118501180A

公开(公告)日：

2024-08-16

发明(设计)人：

邵伟张英鸽马婧怡高瑞鹏千勃兴曾强

申请人：

西安理工大学

申请人地址：

710048 陕西省西安市金花南路5号

IPC主分类号：

G01N21/958

IPC分类号：

G01N21/88 G01B11/00 G01B11/06 G01B11/03 G01B11/22 G01B11/08

代理机构：

西安国兆智汇知识产权代理事务所(普通合伙) 61269

代理人：

董江华

法律状态：

公开

国省代码：

陕西省西安市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-16	公开	公开
2024-09-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/958申请日:20240520

共 50 条

[1]

透明光学元件表面缺陷的检测装置 [P].

陈坚 ;

吴周令 ;

吴令奇 ;

黄明 .

中国专利 :CN203069531U ,2013-07-17

[2]

透明光学元件表面缺陷的检测方法及装置 [P].

陈坚 ;

吴周令 ;

吴令奇 ;

黄明 .

中国专利 :CN103105403A ,2013-05-15

[3]

一种光学元件亚表面缺陷深度信息的检测装置及检测方法 [P].

田爱玲 ;

邱啸天 ;

张英鸽 ;

王红军 ;

王春阳 ;

刘雪莲 ;

刘丙才 ;

朱学亮 .

中国专利 :CN110686614A ,2020-01-14

[4]

光学元件表面形貌及亚表面缺陷信息的检测方法及其装置 [P].

王红军 ;

吴琳 ;

田爱玲 ;

刘卫国 ;

王大森 ;

朱学亮 ;

刘丙才 .

中国专利 :CN109916909A ,2019-06-21

[5]

光学元件亚表面缺陷的多通道原位检测装置及检测方法 [P].

张霖 ;

许乔 ;

石振东 ;

陈坚 ;

马骅 ;

马可 ;

白金玺 ;

李杰 ;

柴立群 ;

赵建华 ;

黄明 .

中国专利 :CN111060516A ,2020-04-24

[6]

光学元件内部缺陷的检测方法及装置 [P].

徐建程 ;

王辉 ;

李勇 ;

范长江 .

中国专利 :CN102288622A ,2011-12-21

[7]

光学元件亚表面缺陷的检测装置 [P].

李亚国 ;

雷向阳 ;

郑楠 ;

邓燕 ;

谢瑞清 ;

陈贤华 ;

王健 ;

许乔 .

中国专利 :CN201697882U ,2011-01-05

[8]

光学元件的缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

栗本英治 ;

南功治 .

中国专利 :CN1815206A ,2006-08-09

[9]

表面缺陷检测方法及表面缺陷检测装置 [P].

大野纮明 ;

儿玉俊文 ;

腰原敬弘 ;

小川晃弘 ;

饭塚幸理 .

中国专利 :CN105849534B ,2016-08-10

[10]

一种光学元件亚表面缺陷快速检测装置和检测方法 [P].

周晓燕 ;

刘红婕 ;

黄进 ;

王凤蕊 ;

刘东 ;

孙焕宇 ;

王狮凌 ;

杨李茗 ;

黎维华 .

中国专利 :CN111208064A ,2020-05-29

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