透明基板内部二维码深度测量系统和测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011619984.3

申请日：

2020-12-30

公开(公告)号：

CN112652007A

公开(公告)日：

2021-04-13

发明(设计)人：

王建刚张义杨红平程龙剑龚玥旻程芝

申请人：

申请人地址：

430223 湖北省武汉市东湖开发区华中科技大学科技园激光产业园

IPC主分类号：

G06T755

IPC分类号：

G06T762 G06T700 G06K710 G06K714

代理机构：

南京纵横知识产权代理有限公司 32224

代理人：

徐瑛

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-09-10	授权	授权
2021-04-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/55 申请日:20201230
2021-04-13	公开	公开

共 50 条

[1]

二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序 [P].

増田敏 .

中国专利 :CN111164407B ,2020-05-15

[2]

iTOF深度测量系统及深度测量方法 [P].

孙瑞 .

中国专利 :CN115524714A ,2022-12-27

[3]

二维测量机及二维测量方法 [P].

布施大辅 ;

足立伸夫 .

中国专利 :CN102365521A ,2012-02-29

[4]

一种深度测量系统及其测量方法 [P].

马宣 .

中国专利 :CN110986816B ,2020-04-10

[5]

外差二维光栅位移测量系统及测量方法 [P].

刘兆武 ;

李文昊 ;

吉日嘎兰图 ;

于宏柱 ;

王玮 ;

姚雪峰 ;

尹云飞 .

中国专利 :CN112097651B ,2020-12-18

[6]

二维码捕获机构和二维码识别系统 [P].

谭孝检 ;

呼志刚 ;

杜开峰 ;

皮富涛 ;

廖婷 .

中国专利 :CN210015444U ,2020-02-04

[7]

一种深度测量方法及深度测量系统 [P].

李旭 ;

鲁英辉 ;

温海超 ;

侯文松 .

中国专利 :CN112629470A ,2021-04-09

[8]

读数头和二维位移测量系统及测量方法 [P].

杨晓峰 ;

郝凌凌 ;

张志平 .

中国专利 :CN111536882B ,2020-08-14

[9]

一种二维姿态角的测量方法和系统 [P].

张广军 ;

江洁 ;

王昊予 .

中国专利 :CN101666640B ,2010-03-10

[10]

钻孔深度测量方法及系统 [P].

黄国坤 .

中国专利 :CN114458296B ,2024-08-06

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