一种二维姿态角的测量方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910093664.6

申请日：

2009-09-27

公开(公告)号：

CN101666640B

公开(公告)日：

2010-03-10

发明(设计)人：

张广军江洁王昊予

申请人：

申请人地址：

100083 北京市海淀区学院路37号

IPC主分类号：

G01C100

IPC分类号：

代理机构：

北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270

代理人：

张颖玲;王黎延

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-06-29	授权	授权
2010-06-02	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101002583782 IPC(主分类):G01C 1/00 专利申请号:2009100936646 申请日:20090927
2010-03-10	公开	公开
2020-09-15	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01C 1/00 申请日:20090927 授权公告日:20110629 终止日期:20190927

共 50 条

[1]

一种三维姿态角的测量方法和系统 [P].

江洁 ;

王英雷 ;

王昊予 ;

张广军 .

中国专利 :CN102135421A ,2011-07-27

[2]

一种高动态二维姿态角测量方法和系统 [P].

江洁 ;

崔运东 ;

王昊予 ;

张广军 .

中国专利 :CN102128608A ,2011-07-20

[3]

二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序 [P].

増田敏 .

中国专利 :CN111164407B ,2020-05-15

[4]

一种距离和姿态角的测量装置及测量方法 [P].

刘绍锦 ;

李建荣 ;

沈铖武 ;

刘畅 ;

王志乾 ;

韩岩 ;

马文家 .

中国专利 :CN110873558B ,2020-03-10

[5]

一种姿态测量方法和姿态测量系统 [P].

王聪 ;

汪名扬 ;

唐桂华 ;

蔡静 .

中国专利 :CN103885077A ,2014-06-25

[6]

透明基板内部二维码深度测量系统和测量方法 [P].

王建刚 ;

张义 ;

杨红平 ;

程龙剑 ;

龚玥旻 ;

程芝 .

中国专利 :CN112652007A ,2021-04-13

[7]

一种双光谱三维姿态角测量装置及测量方法 [P].

陈森 ;

陆卫国 ;

王致强 ;

刘爱敏 ;

王海霞 .

中国专利 :CN110986830A ,2020-04-10

[8]

二维测量机及二维测量方法 [P].

布施大辅 ;

足立伸夫 .

中国专利 :CN102365521A ,2012-02-29

[9]

基于光程倍增补偿方法的二维光电自准直装置和测量方法 [P].

谭久彬 ;

敖磊 ;

崔继文 .

中国专利 :CN1719192A ,2006-01-11

[10]

三维测量方法和系统 [P].

黄淦 .

中国专利 :CN113418472B ,2021-09-21

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