一种无监督缺陷检测方法

被引：0

申请号：

CN202210247216.2

申请日：

2022-03-14

公开(公告)号：

CN114677342A

公开(公告)日：

2022-06-28

发明(设计)人：

李明玥刘东李俊颉陈星宇赵舵

申请人：

申请人地址：

610031 四川省成都市二环路北一段

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06V1044 G06V10764 G06V1082 G06V1074 G06K962 G06N304 G06N308

代理机构：

北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙) 11870

代理人：

韦海英

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-28	公开	公开
2022-07-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20220314

共 50 条

[1]

一种基于无监督学习的外观缺陷检测方法 [P].

徐信罗 ;

肖高博 ;

骆韬 ;

李晓刚 ;

杨智慧 .

中国专利 :CN119107308A ,2024-12-10

[2]

一种半监督深度学习缺陷检测方法 [P].

刘叶清 ;

郑小青 ;

郑松 ;

孔亚广 ;

江爱朋 .

中国专利 :CN114998202A ,2022-09-02

[3]

一种半监督深度学习缺陷检测方法 [P].

刘叶清 ;

郑小青 ;

郑松 ;

孔亚广 ;

江爱朋 .

中国专利 :CN114998202B ,2025-06-17

[4]

一种无需训练的无监督缺陷检测方法及装置 [P].

胡亮 ;

黄周 ;

李聪聪 ;

展华益 ;

王镜宇 ;

郑敏娥 ;

陶原野 .

中国专利 :CN117495822A ,2024-02-02

[5]

一种基于层次聚类的无监督硅片表面缺陷检测方法及装置 [P].

苏育挺 ;

陈凯 ;

井佩光 .

中国专利 :CN120997545A ,2025-11-21

[6]

无监督的缺陷检测模型的训练方法、缺陷检测方法 [P].

曾利宏 ;

杨洋 ;

李杰明 ;

黄淦 ;

林泽伟 .

中国专利 :CN114693685B ,2022-07-01

[7]

一种玻璃盖板无监督小样本缺陷检测方法 [P].

蒋慧琴 ;

刘越 ;

马岭 .

中国专利 :CN117830278A ,2024-04-05

[8]

一种基于图像重建的无监督缺陷检测方法 [P].

敖强 ;

吴静 .

中国专利 :CN118397373A ,2024-07-26

[9]

基于深度学习的无监督晶圆缺陷检测方法 [P].

任鲁西 .

中国专利 :CN117274148B ,2024-07-09

[10]

一种无监督对抗样本检测方法 [P].

黄林荃 ;

张新华 ;

田雨川 ;

段雪琦 .

中国专利 :CN118537630A ,2024-08-23

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