一种新型芯片测试设备

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申请号
CN202222125268.0
申请日
2022-08-12
公开(公告)号
CN218497081U
公开(公告)日
2023-02-17
发明(设计)人
唐华艳 唐玲玲
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片测试设备 [P]. 
陶云彬 .
中国专利 :CN220438494U ,2024-02-02
[2]
新型芯片搬运测试设备 [P]. 
邓天桥 ;
王焕龙 ;
张学东 ;
毕爱荣 ;
韩禄丰 ;
周少峰 ;
赵婉婉 .
中国专利 :CN216792055U ,2022-06-21
[3]
一种存储芯片测试设备 [P]. 
张亚伟 ;
李婷婷 .
中国专利 :CN223513658U ,2025-11-04
[4]
一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P]. 
吴永红 ;
黄建军 ;
赵山 ;
陈建丛 ;
孙钦华 .
中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14
[5]
一种芯片测试机及芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 .
中国专利 :CN120971936A ,2025-11-18
[6]
一种芯片测试设备 [P]. 
徐银森 ;
林佳 ;
罗双武 ;
黄海霞 .
中国专利 :CN223333757U ,2025-09-12
[7]
一种芯片测试设备 [P]. 
陈建从 ;
唐仁伟 ;
吴永红 ;
孙成扬 .
中国专利 :CN223244755U ,2025-08-19
[8]
一种芯片测试设备 [P]. 
杨胜利 ;
李俊 ;
邹家宽 .
中国专利 :CN218424236U ,2023-02-03
[9]
一种芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 ;
文根发 .
中国专利 :CN223205615U ,2025-08-08
[10]
一种芯片测试设备 [P]. 
张学伟 .
中国专利 :CN218350320U ,2023-01-20