一种芯片测试设备

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申请号
CN202222518994.9
申请日
2022-09-22
公开(公告)号
CN218424236U
公开(公告)日
2023-02-03
发明(设计)人
杨胜利 李俊 邹家宽
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市工业园区青丘巷8号
IPC主分类号
B07C534
IPC分类号
代理机构
北京正理专利代理有限公司 11257
代理人
王喆
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片测试设备 [P]. 
吕波 .
中国专利 :CN216757290U ,2022-06-17
[2]
一种芯片测试设备 [P]. 
王树锋 ;
梁晖 ;
陈小兵 .
中国专利 :CN119916180A ,2025-05-02
[3]
一种芯片烧录测试设备 [P]. 
石永平 ;
许政民 ;
孙强 ;
吴敏霞 ;
王婷婷 ;
王沙沙 ;
翟亚 .
中国专利 :CN223413419U ,2025-10-03
[4]
一种封装芯片测试设备 [P]. 
吕波 .
中国专利 :CN214718557U ,2021-11-16
[5]
一种射频芯片测试设备 [P]. 
窦国珍 ;
罗伟 .
中国专利 :CN212321785U ,2021-01-08
[6]
一种新型芯片测试设备 [P]. 
唐华艳 ;
唐玲玲 .
中国专利 :CN218497081U ,2023-02-17
[7]
一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P]. 
吴永红 ;
黄建军 ;
赵山 ;
陈建丛 ;
孙钦华 .
中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14
[8]
一种芯片测试机及芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 .
中国专利 :CN120971936A ,2025-11-18
[9]
一种芯片测试设备 [P]. 
林广满 ;
范聚吉 ;
陈兆林 .
中国专利 :CN117747460A ,2024-03-22
[10]
一种芯片测试设备 [P]. 
覃开福 .
中国专利 :CN215263841U ,2021-12-21