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一种芯片测试设备
被引:0
申请号
:
CN202222518994.9
申请日
:
2022-09-22
公开(公告)号
:
CN218424236U
公开(公告)日
:
2023-02-03
发明(设计)人
:
杨胜利
李俊
邹家宽
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市工业园区青丘巷8号
IPC主分类号
:
B07C534
IPC分类号
:
代理机构
:
北京正理专利代理有限公司 11257
代理人
:
王喆
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-02-03
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试设备
[P].
吕波
论文数:
0
引用数:
0
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0
吕波
.
中国专利
:CN216757290U
,2022-06-17
[2]
一种芯片测试设备
[P].
王树锋
论文数:
0
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0
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0
机构:
前海晶方云(深圳)测试设备有限公司
前海晶方云(深圳)测试设备有限公司
王树锋
;
梁晖
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机构:
前海晶方云(深圳)测试设备有限公司
前海晶方云(深圳)测试设备有限公司
梁晖
;
陈小兵
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0
机构:
前海晶方云(深圳)测试设备有限公司
前海晶方云(深圳)测试设备有限公司
陈小兵
.
中国专利
:CN119916180A
,2025-05-02
[3]
一种芯片烧录测试设备
[P].
石永平
论文数:
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机构:
无锡市鸿翔电子有限公司
无锡市鸿翔电子有限公司
石永平
;
许政民
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机构:
无锡市鸿翔电子有限公司
无锡市鸿翔电子有限公司
许政民
;
孙强
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机构:
无锡市鸿翔电子有限公司
无锡市鸿翔电子有限公司
孙强
;
吴敏霞
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机构:
无锡市鸿翔电子有限公司
无锡市鸿翔电子有限公司
吴敏霞
;
王婷婷
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机构:
无锡市鸿翔电子有限公司
无锡市鸿翔电子有限公司
王婷婷
;
王沙沙
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机构:
无锡市鸿翔电子有限公司
无锡市鸿翔电子有限公司
王沙沙
;
翟亚
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机构:
无锡市鸿翔电子有限公司
无锡市鸿翔电子有限公司
翟亚
.
中国专利
:CN223413419U
,2025-10-03
[4]
一种封装芯片测试设备
[P].
吕波
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0
吕波
.
中国专利
:CN214718557U
,2021-11-16
[5]
一种射频芯片测试设备
[P].
窦国珍
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窦国珍
;
罗伟
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罗伟
.
中国专利
:CN212321785U
,2021-01-08
[6]
一种新型芯片测试设备
[P].
唐华艳
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唐华艳
;
唐玲玲
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唐玲玲
.
中国专利
:CN218497081U
,2023-02-17
[7]
一种芯片测试设备及芯片测试系统
[P].
吴永红
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
吴永红
;
黄建军
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
黄建军
;
赵山
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
赵山
;
陈建丛
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
陈建丛
;
孙钦华
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
孙钦华
.
中国专利
:CN222354016U
,2025-01-14
[8]
一种芯片测试机及芯片测试设备
[P].
孙成扬
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0
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
孙成扬
.
中国专利
:CN120971936A
,2025-11-18
[9]
一种芯片测试设备
[P].
林广满
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机构:
深圳市深科达半导体科技有限公司
深圳市深科达半导体科技有限公司
林广满
;
范聚吉
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机构:
深圳市深科达半导体科技有限公司
深圳市深科达半导体科技有限公司
范聚吉
;
陈兆林
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机构:
深圳市深科达半导体科技有限公司
深圳市深科达半导体科技有限公司
陈兆林
.
中国专利
:CN117747460A
,2024-03-22
[10]
一种芯片测试设备
[P].
覃开福
论文数:
0
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覃开福
.
中国专利
:CN215263841U
,2021-12-21
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