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一种芯片测试设备

被引：0
申请号：
CN202123232740.2
申请日：
2021-12-17
公开(公告)号：
CN216757290U
公开(公告)日：
2022-06-17
发明(设计)人：
吕波
申请人：
申请人地址：
519000 广东省珠海市斗门区新青科技工业园华英路2号(1号厂房)一楼
IPC主分类号：
B07C5344
IPC分类号：
B07C502 B07C536
代理机构：
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人：
侯丽燕
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-06-17 授权 授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试设备 [P]. 
杨胜利 ;
李俊 ;
邹家宽 .
中国专利 :CN218424236U ,2023-02-03
[2]
一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P]. 
吴永红 ;
黄建军 ;
赵山 ;
陈建丛 ;
孙钦华 .
中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14
[3]
一种芯片测试机及芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 .
中国专利 :CN120971936A ,2025-11-18
[4]
一种芯片测试设备 [P]. 
覃开福 .
中国专利 :CN215263841U ,2021-12-21
[5]
一种芯片测试设备 [P]. 
徐银森 ;
林佳 ;
罗双武 ;
黄海霞 .
中国专利 :CN223333757U ,2025-09-12
[6]
一种芯片测试设备 [P]. 
张少宏 .
中国专利 :CN209070074U ,2019-07-05
[7]
一种芯片测试设备 [P]. 
陈建从 ;
唐仁伟 ;
吴永红 ;
孙成扬 .
中国专利 :CN223244755U ,2025-08-19
[8]
一种芯片测试设备 [P]. 
程厚明 .
中国专利 :CN223259751U ,2025-08-22
[9]
一种芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 ;
文根发 .
中国专利 :CN223205615U ,2025-08-08
[10]
一种芯片测试设备 [P]. 
陶云彬 .
中国专利 :CN220438494U ,2024-02-02
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