共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种芯片测试设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202120146139.2
申请日：
2021-01-19
公开(公告)号：
CN215263841U
公开(公告)日：
2021-12-21
发明(设计)人：
覃开福
申请人：
申请人地址：
519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇软件园路1号教学区1#二层202-206室
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人：
尹凡华
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-12-21 | 授权 | 授权 |