一种芯片烧录测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422119944.2

申请日：

2024-08-30

公开(公告)号：

CN223413419U

公开(公告)日：

2025-10-03

发明(设计)人：

石永平许政民孙强吴敏霞王婷婷王沙沙翟亚

申请人：

无锡市鸿翔电子有限公司

申请人地址：

214000 江苏省无锡市滨湖区钱姚路88号-J

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

无锡苏元专利代理事务所(普通合伙) 32471

代理人：

王小平

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省无锡市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-03	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片烧录、测试设备 [P].

邓振东 .

中国专利 :CN201876869U ,2011-06-22

[2]

芯片烧录测试设备 [P].

颜建芳 .

中国专利 :CN209373044U ,2019-09-10

[3]

一种芯片烧录测试设备 [P].

岑思华 .

中国专利 :CN214795104U ,2021-11-19

[4]

一种烧录测试设备 [P].

罗慧丽 ;

陈龙 ;

罗俊勇 .

中国专利 :CN222580201U ,2025-03-07

[5]

芯片烧录测试设备 [P].

林宗毅 .

中国专利 :CN206584014U ,2017-10-24

[6]

一种芯片烧录测试设备 [P].

涂海涛 ;

薛国荣 ;

冼祖国 ;

梁峰国 ;

蒋三海 .

中国专利 :CN113376512A ,2021-09-10

[7]

一种封装芯片测试烧录座 [P].

黄燕娜 ;

胡静君 ;

韩敏虹 .

中国专利 :CN220854927U ,2024-04-26

[8]

一种烧录测试设备 [P].

邵勇锋 ;

刘涛荣 ;

王庆海 .

中国专利 :CN215089014U ,2021-12-10

[9]

一种高效率的芯片烧录测试设备 [P].

涂海涛 ;

潘艳 ;

涂先威 ;

薛国荣 .

中国专利 :CN217879521U ,2022-11-22

[10]

封装芯片测试烧录座 [P].

鲁鹏棋 ;

何世坤 .

中国专利 :CN216412143U ,2022-04-29

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