一种烧录测试设备

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202420047796.5
申请日
2024-01-08
公开(公告)号
CN222580201U
公开(公告)日
2025-03-07
发明(设计)人
罗慧丽 陈龙 罗俊勇
申请人
深圳市微芯智能科技有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区新桥街道上寮社区广深路新桥段35号唐商大厦B1507
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R1/04
代理机构
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
张小容
法律状态
授权
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
一种芯片烧录测试设备 [P]. 
石永平 ;
许政民 ;
孙强 ;
吴敏霞 ;
王婷婷 ;
王沙沙 ;
翟亚 .
中国专利 :CN223413419U ,2025-10-03
[2]
一种烧录测试设备 [P]. 
邵勇锋 ;
刘涛荣 ;
王庆海 .
中国专利 :CN215089014U ,2021-12-10
[3]
烧录测试设备及烧录测试系统 [P]. 
陈培民 ;
钟毅 ;
翁湘凯 .
中国专利 :CN220730360U ,2024-04-05
[4]
一种芯片烧录、测试设备 [P]. 
邓振东 .
中国专利 :CN201876869U ,2011-06-22
[5]
一种基片烧录测试设备 [P]. 
范建群 .
中国专利 :CN223547231U ,2025-11-14
[6]
一种高效烧录测试设备 [P]. 
张光富 .
中国专利 :CN217543324U ,2022-10-04
[7]
一种高效烧录测试设备 [P]. 
董明 .
中国专利 :CN222098967U ,2024-12-03
[8]
一种芯片烧录测试设备 [P]. 
岑思华 .
中国专利 :CN214795104U ,2021-11-19
[9]
一种多工位烧录测试设备 [P]. 
沙海军 ;
周朝鹏 ;
李小聪 .
中国专利 :CN222545723U ,2025-02-28
[10]
芯片烧录测试设备 [P]. 
颜建芳 .
中国专利 :CN209373044U ,2019-09-10