用于测量闪烁的设备和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880051003.4

申请日：

2018-06-01

公开(公告)号：

CN110914811A

公开(公告)日：

2020-03-24

发明(设计)人：

A.萨菲 B.西泽格尔 M.科斯特伦

申请人：

申请人地址：

美国马萨诸塞州

IPC主分类号：

G06F1328

IPC分类号：

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

刘书航;刘春元

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-03-24	公开	公开
2020-04-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 13/28 申请日:20180601

共 50 条

[1]

用于测量磁场的设备和系统 [P].

Q·H·陈 ;

F·特尔基 ;

T·K·阮 ;

G·伯格 ;

S·瓦内 ;

A·布赛科索 .

法国专利 :CN118176430A ,2024-06-11

[2]

用于测量系统中的测量方法和测量设备 [P].

B·彼得森 .

中国专利 :CN101233384A ,2008-07-30

[3]

用于测量物料流的质量流量的测量设备、测量系统、配料系统、用于运行测量设备的方法和用于运行测量系统的方法 [P].

延斯·卡尔 .

中国专利 :CN111213038B ,2020-05-29

[4]

用于喷洒测量设备的系统和方法 [P].

D·奥莱利 ;

C·福尔盖 ;

J·莱文森 ;

J·加尔巴希克 ;

A·特鲁法诺夫 ;

R·克雷格 ;

D·布雷迪 .

中国专利 :CN112638557B ,2021-04-09

[5]

用于照明系统的能量测量 [P].

A.V.潘达瑞潘德 ;

D.R.凯瑟多费尔南德兹 .

中国专利 :CN109923944A ,2019-06-21

[6]

用于姿态测量设备的姿态测量精度的测量系统和方法 [P].

高昕 ;

胡蕾 ;

李希宇 ;

余毅 ;

唐嘉 ;

雷呈强 .

中国专利 :CN113551639A ,2021-10-26

[7]

用于测量光束角和光通量的测量设备和测量系统 [P].

王耀海 ;

赵健 ;

王兆文 .

中国专利 :CN216594087U ,2022-05-24

[8]

铁轨用振动测量设备和使用该振动测量设备的测量系统 [P].

陈志强 ;

李元景 ;

徐惠康 ;

温海宁 ;

钱鸿治 ;

王治强 .

中国专利 :CN102080985A ,2011-06-01

[9]

用于借助散射光测量颗粒浓度的测量设备和用于监视测量设备的方法 [P].

K.施滕格尔 ;

G.诺比斯 ;

G.哈加 ;

M.诺伊恩多夫 .

中国专利 :CN103403526B ,2013-11-20

[10]

用于原位测量腐蚀的方法和系统 [P].

J·小博娜蒂斯 ;

G·贝尔 ;

J·D·塔特 ;

P·M·拉塞尔 .

中国专利 :CN105209902B ,2015-12-30

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