直拉单晶直径测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210563386.8
申请日
2012-12-21
公开(公告)号
CN103046128A
公开(公告)日
2013-04-17
发明(设计)人
石磊 邢建龙
申请人
申请人地址
710100 陕西省西安市长安区航天中路388号
IPC主分类号
C30B1526
IPC分类号
代理机构
西安弘理专利事务所 61214
代理人
罗笛
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
直拉单晶直径测量方法 [P]. 
郭力 ;
周锐 ;
李侨 ;
徐战军 ;
王正远 ;
赵会刚 ;
张伟建 ;
刘永生 ;
武高峰 .
中国专利 :CN110528070B ,2019-12-03
[2]
直拉单晶硅直径测量方法 [P]. 
郭兵健 ;
徐一俊 ;
黄笑容 ;
万喜增 ;
陈功 ;
蒋委达 .
中国专利 :CN102061517A ,2011-05-18
[3]
一种直拉单晶硅直径测量方法 [P]. 
孙玉梅 ;
李洪秀 ;
王红华 ;
苏凤 ;
董云云 .
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[4]
直拉硅单晶炉的硅熔体液面位置及单晶棒直径的测量方法 [P]. 
曹建伟 ;
张俊 ;
傅林坚 ;
邱敏秀 .
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[5]
基于霍夫变换的直拉单晶硅棒直径的测量方法 [P]. 
刘丁 ;
赵跃 ;
季瑞瑞 ;
任海鹏 .
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[6]
一种直拉单晶硅直径测量方法、装置和直拉单晶硅生长装置 [P]. 
金光勳 ;
李寅锋 ;
李嘉伟 ;
赵旭良 .
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[7]
一种新型直拉单晶直径检测方法 [P]. 
杨昊 ;
李海峰 ;
杨阳 ;
李向宇 ;
孙自阳 .
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[8]
基于数字信号处理器的双相机直拉单晶直径测量方法 [P]. 
刘丁 ;
任海鹏 ;
赵跃 ;
李琦 .
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[9]
直拉单晶炉 [P]. 
王玲玲 .
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[10]
直径测量工装及直径测量方法 [P]. 
夏胜芳 ;
于晓燕 ;
毛晨君 ;
张建伟 ;
仇中益 ;
王谊东 .
中国专利 :CN118857050A ,2024-10-29