一种基于失效物理的多元Copula功率器件可靠性评价方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910597236.0

申请日：

2019-07-04

公开(公告)号：

CN110298126A

公开(公告)日：

2019-10-01

发明(设计)人：

付桂翠郭文迪万博苏昱太

申请人：

申请人地址：

100191 北京市海淀区学院路37号

IPC主分类号：

G06F1750

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-10-01	公开	公开
2021-11-02	授权	授权
2019-11-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20190704

共 50 条

[1]

一种基于失效物理的MOS器件可靠性仿真评价方法 [P].

付桂翠 ;

赵幼虎 ;

万博 ;

董一兵 .

中国专利 :CN103955568A ,2014-07-30

[2]

一种基于失效物理的IGBT模块可靠性分析方法 [P].

袁宇波 ;

葛雪峰 ;

史明明 ;

费骏韬 ;

刘瑞煌 ;

缪惠宇 ;

张宸宇 .

中国专利 :CN114297900A ,2022-04-08

[3]

一种基于失效物理模型的多芯片组件可靠性分析方法 [P].

黄洪钟 ;

叶培莲 ;

李彦锋 ;

黄承赓 ;

彭卫文 ;

黄思思 ;

郭来小 .

中国专利 :CN107247845A ,2017-10-13

[4]

基于失效物理和质量一致性的电磁继电器可靠性预计方法 [P].

邓杰 ;

刘晓涵 ;

陈昊 ;

翟国富 ;

唐伟 ;

康锐 .

中国专利 :CN115577556A ,2023-01-06

[5]

一种快速评价半导体器件可靠性的方法 [P].

郭春生 ;

张燕峰 ;

冯士维 ;

万宁 ;

李睿 ;

朱慧 .

中国专利 :CN103246787B ,2013-08-14

[6]

高可靠性的功率器件 [P].

何洪运 ;

郝艳霞 ;

沈加勇 .

中国专利 :CN212750868U ,2021-03-19

[7]

一种IGBT器件低频噪声可靠性评价方法 [P].

陈晓娟 ;

吴洁 ;

宫玉琳 ;

曲畅 ;

孙越 .

中国专利 :CN108614204A ,2018-10-02

[8]

一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法 [P].

苏昱太 ;

周圳锐 ;

李泽新 .

中国专利 :CN119885676A ,2025-04-25

[9]

一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法 [P].

苏昱太 ;

周圳锐 ;

李泽新 .

中国专利 :CN119885676B ,2025-06-24

[10]

一种基于器件失效来源的MMC可靠性分析方法 [P].

王跃 ;

吕高泰 ;

尹太元 ;

雷万钧 ;

宣佳卓 ;

王朝亮 .

中国专利 :CN110376449A ,2019-10-25

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