一种基于失效物理模型的多芯片组件可靠性分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710446253.5

申请日：

2017-06-14

公开(公告)号：

CN107247845A

公开(公告)日：

2017-10-13

发明(设计)人：

黄洪钟叶培莲李彦锋黄承赓彭卫文黄思思郭来小

申请人：

申请人地址：

611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号

IPC主分类号：

G06F1750

IPC分类号：

代理机构：

成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227

代理人：

周永宏

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-10-13	公开	公开
2022-02-15	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F 17/50 申请公布日:20171013
2017-11-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20170614

共 50 条

[1]

多芯片组件（MCM）可靠性预计模型 [P].

任艳 .

中国专利 :CN102436517A ,2012-05-02

[2]

多芯片组件的可靠性预测方法 [P].

黄智伟 ;

任艳 ;

翟芳 ;

周军连 .

中国专利 :CN102819689A ,2012-12-12

[3]

一种基于失效物理的IGBT模块可靠性分析方法 [P].

袁宇波 ;

葛雪峰 ;

史明明 ;

费骏韬 ;

刘瑞煌 ;

缪惠宇 ;

张宸宇 .

中国专利 :CN114297900A ,2022-04-08

[4]

一种高集成双通道多功能多芯片组件（MCM）互连可靠性分析方法 [P].

林倩 ;

赵鹏飞 ;

邬海峰 .

中国专利 :CN118114605A ,2024-05-31

[5]

基于失效物理模型的射频组件微线带可靠度分布分析方法 [P].

阮进喜 ;

赵弋飞 ;

王文 ;

阮国辉 ;

李雄雄 ;

杨尔宁 ;

孙智江 ;

管梦宇 ;

周凤林 ;

荆慧军 .

中国专利 :CN120046405A ,2025-05-27

[6]

一种基于失效物理的MOS器件可靠性仿真评价方法 [P].

付桂翠 ;

赵幼虎 ;

万博 ;

董一兵 .

中国专利 :CN103955568A ,2014-07-30

[7]

一种基于物理模型的片上供电网络电迁移可靠性分析方法 [P].

王晓懿 ;

闫岩 ;

王泓宇 .

中国专利 :CN107153750A ,2017-09-12

[8]

一种基于失效物理的多元Copula功率器件可靠性评价方法 [P].

付桂翠 ;

郭文迪 ;

万博 ;

苏昱太 .

中国专利 :CN110298126A ,2019-10-01

[9]

基于确信可靠度的齿轮可靠性分析方法 [P].

于格 ;

林焱辉 ;

康锐 ;

张清源 ;

祖天培 .

中国专利 :CN109409028B ,2019-03-01

[10]

一种基于多机理竞争退化的贮存可靠性分析方法 [P].

黄小凯 ;

陈云霞 ;

康锐 .

中国专利 :CN102789528A ,2012-11-21

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