基于仿真的晶体管IDVGIDVD测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202022745543.X

申请日：

2020-11-24

公开(公告)号：

CN213581235U

公开(公告)日：

2021-06-29

发明(设计)人：

赵先成

申请人：

申请人地址：

311300 浙江省杭州市临安区青山湖街道大园路1155号1幢17楼1703、1704号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

北京轻创知识产权代理有限公司 11212

代理人：

刘宇波

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种基于嵌入式的晶体管IDVG/IDVD测试系统 [P].

赵先成 .

中国专利 :CN213581237U ,2021-06-29

[2]

一种晶体管测试控制电路和晶体管测试系统 [P].

徐广泽 .

中国专利 :CN113109686B ,2021-07-13

[3]

晶体管性能测试方法及晶体管性能测试系统 [P].

艾玉石 .

中国专利 :CN119986295A ,2025-05-13

[4]

晶体管级电路仿真的方法和系统 [P].

方君 ;

陈静 ;

吴崎 .

中国专利 :CN115510790A ,2022-12-23

[5]

晶体管级电路仿真的方法和系统 [P].

方君 ;

陈静 ;

吴崎 .

中国专利 :CN113420518A ,2021-09-21

[6]

晶体管扫描测试系统 [P].

郭胜岩 ;

冯丽平 .

中国专利 :CN203838298U ,2014-09-17

[7]

基于数字仿真的闭环测试系统 [P].

房雪雷 ;

侯宜祥 ;

马娟 ;

徐华 ;

赵岱平 ;

吴义纯 ;

房雁平 ;

吴红 ;

陈银 ;

陈财 ;

秦晓佳 ;

罗慧 ;

俸忠文 .

中国专利 :CN108957185A ,2018-12-07

[8]

用于晶体管设计的仿真的参数校准 [P].

方景田 ;

O·彭钦 ;

S·J·阿布德 ;

D·巴苏 .

美国专利 :CN118133753A ,2024-06-04

[9]

晶体管特性仿真装置、晶体管特性仿真方法和晶体管特性仿真程序 [P].

大塚友绚 ;

山口裕太郎 ;

山中宏治 .

日本专利 :CN117355837A ,2024-01-05

[10]

晶体管白噪声测试系统 [P].

姜兰举 ;

李强 .

中国专利 :CN212159992U ,2020-12-15

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