eMMC封装测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202122274863.6
申请日
2021-09-18
公开(公告)号
CN215815202U
公开(公告)日
2022-02-11
发明(设计)人
黄旭彪 吴秉陵 翁友民 黄庭鑫 罗晓东 虞青松
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市坪山区龙田街道老坑社区锦绣中路18号齐心科技园1号厂房501-601
IPC主分类号
G11C2956
IPC分类号
代理机构
深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙) 44527
代理人
胡小登
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
EMMC测试装置 [P]. 
孙日欣 ;
李振华 ;
王天益 .
中国专利 :CN205334968U ,2016-06-22
[2]
一种EMMC测试装置 [P]. 
卫然 .
中国专利 :CN207993493U ,2018-10-19
[3]
EMMC测试装置 [P]. 
孙日欣 ;
李振华 ;
王天益 .
中国专利 :CN105390163A ,2016-03-09
[4]
EMMC测试装置 [P]. 
程皓 ;
吴坤龙 ;
蔡青坚 .
中国专利 :CN221994136U ,2024-11-12
[5]
一种eMMC断电测试装置 [P]. 
许创鸿 ;
胡太平 .
中国专利 :CN222939665U ,2025-06-03
[6]
一种高效EMMC封装测试装置 [P]. 
王一 .
中国专利 :CN217880858U ,2022-11-22
[7]
封装芯片测试装置 [P]. 
王鹏 .
中国专利 :CN223650140U ,2025-12-09
[8]
一种EMMC测试装置及方法 [P]. 
卫然 .
中国专利 :CN107886997A ,2018-04-06
[9]
一种eMMC断电测试装置及测试方法 [P]. 
许创鸿 ;
胡太平 .
中国专利 :CN119068964A ,2024-12-03
[10]
一种小型散热式EMMc测试装置 [P]. 
张朋 ;
汪金景 ;
张瑞品 .
中国专利 :CN218447237U ,2023-02-03