用于产生针对晶片的检查过程的方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201080021084.7

申请日：

2010-03-08

公开(公告)号：

CN102422405B

公开(公告)日：

2012-04-18

发明(设计)人：

熊艳

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

G01N2188

代理机构：

北京嘉和天工知识产权代理事务所(普通合伙) 11269

代理人：

严慎

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-09-03	授权	授权
2012-05-30	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101256117263 IPC(主分类):H01L 21/66 专利申请号:2010800210847 申请日:20100308
2012-04-18	公开	公开

共 50 条

[1]

用于分析内窥镜检查过程的检查质量的计算机实现的系统和方法 [P].

安德莉雅·凯鲁比尼 ;

彼得罗·萨尔瓦尼尼 ;

南恩·恩果·狄恩 .

:CN118076315A ,2024-05-24

[2]

用于检查晶片的系统和方法 [P].

I·里埃布雷格茨 ;

N·森 ;

K·图伊斯 ;

R·J·G·古森斯 .

中国专利 :CN113227905A ,2021-08-06

[3]

用于检查晶片的系统和方法 [P].

I·里埃布雷格茨 ;

N·森 ;

K·图伊斯 ;

R·J·G·古森斯 .

:CN113227905B ,2024-06-11

[4]

用于模拟内窥镜检查过程的外围控制设备 [P].

温琴佐·琴纳莫 .

:CN115240524B ,2024-06-25

[5]

用于模拟内窥镜检查过程的便携式外围控制设备 [P].

温琴佐·琴纳莫 .

中国专利 :CN110998698B ,2020-04-10

[6]

用于提供检查信息的方法和用于确定检查信息的系统 [P].

斯文·科勒 ;

斯文娅·利普波克 ;

福尔克尔·沙勒 .

中国专利 :CN114283911A ,2022-04-05

[7]

用于产生视频概要的方法和系统 [P].

施缪尔·潘莱格 ;

亚历山大·莱弗－阿佳 .

中国专利 :CN101366027A ,2009-02-11

[8]

用于产生调控元件的方法和系统 [P].

J·J·塔皮亚·瓦伦苏埃拉 .

美国专利 :CN119998821A ,2025-05-13

[9]

用于产生针对电网的电压变化的惯性响应的系统和方法 [P].

G·C·塔尔诺夫斯基 .

中国专利 :CN103718410A ,2014-04-09

[10]

用于生成用于晶片分析的校准数据的方法和系统 [P].

Y·西莫维奇 .

中国专利 :CN114078114A ,2022-02-22

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