一种测试机台及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810607831.3

申请日：

2018-06-13

公开(公告)号：

CN108872276A

公开(公告)日：

2018-11-23

发明(设计)人：

顾铁王勇唐望升

申请人：

申请人地址：

215434 江苏省苏州市太仓港经济技术开发区北环路行政服务中心十楼

IPC主分类号：

G01N2304

IPC分类号：

代理机构：

上海光华专利事务所(普通合伙) 31219

代理人：

余明伟

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-19	授权	授权
2018-11-23	公开	公开
2018-12-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/04 申请日:20180613

共 50 条

[1]

测试机台及测试方法 [P].

张藏文 ;

朱鹏 .

中国专利 :CN107942222A ,2018-04-20

[2]

测试机台及测试方法 [P].

张藏文 ;

朱鹏 .

中国专利 :CN108279368A ,2018-07-13

[3]

测试机台及测试方法 [P].

吕康 ;

熊阳 ;

胡健 .

中国专利 :CN114646781A ,2022-06-21

[4]

测试机台 [P].

雷小东 ;

章英 .

中国专利 :CN205719367U ,2016-11-23

[5]

测试机台 [P].

李新蔚 .

中国专利 :CN202631633U ,2012-12-26

[6]

一种测试方法及测试机台 [P].

赵慧冬 ;

刘畅然 ;

乔树山 ;

刘逸畅 .

中国专利 :CN114624572A ,2022-06-14

[7]

一种测试方法及测试机台 [P].

赵慧冬 ;

刘畅然 ;

乔树山 ;

刘逸畅 .

中国专利 :CN114624572B ,2025-11-11

[8]

一种测试机台及芯片测试方法 [P].

张悦 .

中国专利 :CN111208414B ,2025-04-11

[9]

一种测试机台及芯片测试方法 [P].

张悦 .

中国专利 :CN111208414A ,2020-05-29

[10]

测试机台 [P].

敖雪丽 ;

张维维 ;

巫景铭 ;

邢冰心 .

中国专利 :CN106017785A ,2016-10-12

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