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一种测试机台及芯片测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010198793.8
申请日：
2020-03-19
公开(公告)号：
CN111208414B
公开(公告)日：
2025-04-11
发明(设计)人：
张悦
申请人：
悦芯科技股份有限公司
申请人地址：
230000 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/04
G01M11/04
G01M11/02
代理机构：
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463
代理人：
唐正瑜
法律状态：
授权
国省代码：
安徽省
宣城市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-04-11 | 授权 | 授权 |