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用于芯片脉冲宽度的测试方法及装置和设备、测试机台

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411909332.1
申请日：
2024-12-24
公开(公告)号：
CN119757883A
公开(公告)日：
2025-04-04
发明(设计)人：
张文博 胡博 邹欢 李凯亮
申请人：
紫光同芯微电子有限公司
申请人地址：
100000 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园·北领地B-1楼一层106A
IPC主分类号：
G01R29/02
IPC分类号：
G01R31/317
代理机构：
北京康盛知识产权代理有限公司 11331
代理人：
武旭妹
法律状态：
公开
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-04 公开 公开
2025-04-22 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 29/02申请日:20241224
共 50 条
[1]
一种测试机台及芯片测试方法 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN111208414B ,2025-04-11
[2]
一种测试机台及芯片测试方法 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN111208414A ,2020-05-29
[3]
芯片测试机台及方法 [P]. 
翁伟明 ;
何毅阳 ;
陈晓森 .
中国专利 :CN114414982A ,2022-04-29
[4]
一种测试机台及芯片测试系统 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN211905594U ,2020-11-10
[5]
用于异步半双工通信协议的芯片测试方法及装置、测试机台 [P]. 
张轩宁 ;
赵禹源 ;
张满新 .
中国专利 :CN119728071B ,2025-10-31
[6]
用于异步半双工通信协议的芯片测试方法及装置、测试机台 [P]. 
张轩宁 ;
赵禹源 ;
张满新 .
中国专利 :CN119728071A ,2025-03-28
[7]
芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P]. 
孙军凯 ;
张柯 ;
孟祥刚 ;
蒋曦 .
中国专利 :CN114280454B ,2024-01-23
[8]
芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P]. 
孙军凯 ;
张柯 ;
孟祥刚 ;
蒋曦 .
中国专利 :CN114280454A ,2022-04-05
[9]
芯片测试方法、装置、测试机及存储介质 [P]. 
李腾 .
中国专利 :CN118425732A ,2024-08-02
[10]
测试针装置及芯片测试机 [P]. 
段雄斌 ;
张利利 ;
庞华贵 ;
何选民 .
中国专利 :CN218068209U ,2022-12-16
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