多类型芯片测试板、测试系统及测试机台

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510796872.8
申请日
2015-11-18
公开(公告)号
CN105445644A
公开(公告)日
2016-03-30
发明(设计)人
黄少辉 白安鹏 徐露
申请人
申请人地址
330029 江西省南昌市高新区京东大道1189号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人
姜燕;王卫忠
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
基于自动测试机台的芯片测试系统 [P]. 
张婷 ;
赵金栋 ;
刘希达 ;
李振刚 .
中国专利 :CN218240312U ,2023-01-06
[2]
一种测试机台及芯片测试系统 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN211905594U ,2020-11-10
[3]
芯片测试机台及方法 [P]. 
翁伟明 ;
何毅阳 ;
陈晓森 .
中国专利 :CN114414982A ,2022-04-29
[4]
芯片测试机及芯片测试系统 [P]. 
王晓斌 ;
马彦斌 ;
李鑫 ;
王亮 ;
朱旋虎 .
中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15
[5]
芯片测试板及芯片测试系统 [P]. 
王华 ;
刘远华 ;
王锦 ;
季海英 ;
邓维维 ;
郝丹丹 .
中国专利 :CN104316731A ,2015-01-28
[6]
车辆姿态测试机台及测试系统 [P]. 
戴奎 ;
李由 ;
王志成 ;
李晓宇 ;
黄侠 .
中国专利 :CN117890123A ,2024-04-16
[7]
车辆姿态测试机台及测试系统 [P]. 
戴奎 ;
李由 ;
王志成 ;
李晓宇 ;
黄侠 .
中国专利 :CN117890123B ,2024-08-20
[8]
晶圆测试方法、测试系统及测试机台 [P]. 
余键 .
中国专利 :CN114355146B ,2025-08-01
[9]
晶圆测试方法、测试系统及测试机台 [P]. 
余键 .
中国专利 :CN114355146A ,2022-04-15
[10]
测试机台 [P]. 
张君豪 ;
张玉艳 .
中国专利 :CN205484424U ,2016-08-17