基于自动测试机台的芯片测试系统

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申请号
CN202222376809.7
申请日
2022-09-07
公开(公告)号
CN218240312U
公开(公告)日
2023-01-06
发明(设计)人
张婷 赵金栋 刘希达 李振刚
申请人
申请人地址
100085 北京市大兴区北京经济技术开发区科谷四街1号院8号楼8层801
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
北京思创大成知识产权代理有限公司 11614
代理人
张立君
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
多类型芯片测试板、测试系统及测试机台 [P]. 
黄少辉 ;
白安鹏 ;
徐露 .
中国专利 :CN105445644A ,2016-03-30
[2]
内存芯片自动测试机 [P]. 
林勇 .
中国专利 :CN221754021U ,2024-09-24
[3]
一种测试机台及芯片测试系统 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN211905594U ,2020-11-10
[4]
芯片自动测试机 [P]. 
陈飞宇 ;
梁发年 .
中国专利 :CN214669444U ,2021-11-09
[5]
芯片测试机及芯片测试系统 [P]. 
王晓斌 ;
马彦斌 ;
李鑫 ;
王亮 ;
朱旋虎 .
中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15
[6]
多功能单板自动测试机台 [P]. 
吴添鹰 ;
朱君昌 ;
张凤雏 .
中国专利 :CN202886416U ,2013-04-17
[7]
一种芯片测试系统和芯片自动测试台 [P]. 
黄思琪 ;
郭庆锐 ;
杨全勇 .
中国专利 :CN213457228U ,2021-06-15
[8]
测试机台 [P]. 
张君豪 ;
张玉艳 .
中国专利 :CN205484424U ,2016-08-17
[9]
一种用于TO自动测试机台的测试座 [P]. 
李彬亭 ;
梁盼 .
中国专利 :CN215031329U ,2021-12-07
[10]
一种芯片自动测试机 [P]. 
何润 ;
吴森锋 ;
刘威 ;
何志伟 .
中国专利 :CN116381447B ,2024-06-14