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一种发射率现场测量的方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN91107415.5
申请日
:
1991-05-30
公开(公告)号
:
CN1021254C
公开(公告)日
:
1992-03-04
发明(设计)人
:
张才根
李琦
申请人
:
申请人地址
:
200083上海市中山北一路420号
IPC主分类号
:
G01N2147
IPC分类号
:
代理机构
:
中国科学院上海专利事务所
代理人
:
高毓秋
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
1992-03-04
公开
公开
1996-07-17
专利权的终止未缴年费专利权终止
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-02-12
实质审查请求已生效的专利申请
实质审查请求已生效的专利申请
1993-06-16
授权
授权
共 50 条
[1]
一种发射率的测量方法
[P].
李云红
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李云红
;
张恒
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张恒
;
马蓉
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马蓉
;
贾利娜
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贾利娜
.
中国专利
:CN105004754A
,2015-10-28
[2]
材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法
[P].
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机构:
张玖
;
岳峰
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机构:
东北大学
东北大学
岳峰
;
兰旭
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机构:
东北大学
东北大学
兰旭
;
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机构:
梅国晖
.
中国专利
:CN117990214A
,2024-05-07
[3]
材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法
[P].
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机构:
张玖
;
岳峰
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东北大学
东北大学
岳峰
;
兰旭
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机构:
东北大学
东北大学
兰旭
;
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机构:
梅国晖
.
中国专利
:CN117990214B
,2025-05-13
[4]
一种发射率测量装置的校准方法
[P].
张宇峰
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张宇峰
;
安东阳
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安东阳
;
王洋
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王洋
;
唐增武
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唐增武
;
戴景民
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戴景民
;
刘钊
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刘钊
;
贾辉
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贾辉
;
刘文皓
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刘文皓
.
中国专利
:CN114184569A
,2022-03-15
[5]
一种表面发射率测量系统
[P].
于浩
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于浩
;
张志学
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张志学
;
张羽鹏
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张羽鹏
;
薛秀生
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薛秀生
;
叶林
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叶林
;
葛俊锋
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葛俊锋
;
桂康
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桂康
;
侯雷
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侯雷
;
潘心正
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潘心正
.
中国专利
:CN105890773A
,2016-08-24
[6]
一种红外热像仪快速测量材料表面发射率的方法
[P].
翟玉卫
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翟玉卫
;
梁法国
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梁法国
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郑世棋
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郑世棋
;
乔玉娥
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乔玉娥
;
刘霞美
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刘霞美
.
中国专利
:CN103675019B
,2014-03-26
[7]
一种基于环境辐射改变的现场目标发射率测量系统及方法
[P].
屈惠明
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屈惠明
;
吉庆
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吉庆
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陈钱
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陈钱
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顾国华
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顾国华
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张立广
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张立广
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王坤
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王坤
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张一帆
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张一帆
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于雪莲
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于雪莲
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李加基
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李加基
.
中国专利
:CN104266762A
,2015-01-07
[8]
材料表面发射率测量装置
[P].
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机构:
赵雨晨
;
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机构:
张恒成
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沈福至
;
黄子淳
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中国科学院理化技术研究所
中国科学院理化技术研究所
黄子淳
;
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机构:
李来风
.
中国专利
:CN220568657U
,2024-03-08
[9]
材料表面发射率测量装置
[P].
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赵雨晨
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张恒成
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机构:
沈福至
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黄子淳
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机构:
中国科学院理化技术研究所
中国科学院理化技术研究所
黄子淳
;
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机构:
李来风
.
中国专利
:CN119354924A
,2025-01-24
[10]
一种材料方向发射率测量装置及方法
[P].
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机构:
黄晟
;
王文松
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机构:
武汉高德智感科技有限公司
武汉高德智感科技有限公司
王文松
;
高明
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武汉高德智感科技有限公司
武汉高德智感科技有限公司
高明
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田志远
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武汉高德智感科技有限公司
田志远
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杨艳峰
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武汉高德智感科技有限公司
武汉高德智感科技有限公司
杨艳峰
.
中国专利
:CN119197785A
,2024-12-27
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