一种厚膜混合集成电路模块金属化孔导通测试夹具

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申请号
CN202210119868.8
申请日
2022-02-09
公开(公告)号
CN114487506A
公开(公告)日
2022-05-13
发明(设计)人
张祥
申请人
申请人地址
276100 山东省临沂市郯城县郯东路437号工业园区4572
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
公开
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共 50 条
[1]
厚膜混合集成电路模块金属化孔导通测试夹具 [P]. 
刘国庆 .
中国专利 :CN203535078U ,2014-04-09
[2]
一种厚膜混合集成电路模块金属化孔导通测试夹具 [P]. 
王炯一 ;
冷和平 ;
张斌 ;
吴辉 .
中国专利 :CN217034030U ,2022-07-22
[3]
高效率厚膜混合集成电路模块金属化孔导通测试夹具 [P]. 
刘国庆 .
中国专利 :CN210427632U ,2020-04-28
[4]
厚膜混合集成电路模块金属化孔导通测试仪 [P]. 
刘国庆 .
中国专利 :CN203535162U ,2014-04-09
[5]
双工位厚膜混合集成电路模块金属化孔导通测试仪 [P]. 
刘国庆 .
中国专利 :CN210401620U ,2020-04-24
[6]
一种厚膜混合集成电路孔金属化制造工艺 [P]. 
顾伟民 ;
吴荧 ;
黄剑龙 .
中国专利 :CN102637627A ,2012-08-15
[7]
厚膜混合集成电路模块 [P]. 
刘国庆 .
中国专利 :CN203536437U ,2014-04-09
[8]
一种集成电路模块金属化孔导通测试装置 [P]. 
李本亮 ;
易文钦 ;
邓秋艳 ;
杨龙 ;
刘宇 .
中国专利 :CN217981742U ,2022-12-06
[9]
厚膜混合集成电路测试系统 [P]. 
刘国庆 .
中国专利 :CN205404750U ,2016-07-27
[10]
一种厚膜混合集成电路测试装置 [P]. 
聂涛 .
中国专利 :CN220626447U ,2024-03-19