光学式测定装置及光学式测定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200510008337.8

申请日：

2005-02-17

公开(公告)号：

CN1321316C

公开(公告)日：

2005-08-24

发明(设计)人：

冈部浩史本城琢也福井浩古泽拓一

申请人：

申请人地址：

日本京都府

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

G01M1102 G02F113

代理机构：

隆天国际知识产权代理有限公司

代理人：

高龙鑫;潘培坤

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-04-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101065089428 IPC(主分类):G01B 11/24 专利号:ZL2005100083378 申请日:20050217 授权公告日:20070613 终止日期:20100217
2005-10-19	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-08-24	公开	公开
2007-06-13	授权	授权

共 50 条

[1]

光学式间隙测定装置及光学式间隙测定方法 [P].

衣笠静一郎 ;

古谷雅 .

中国专利 :CN115388795A ,2022-11-25

[2]

光学式间隙测定装置及光学式间隙测定方法 [P].

衣笠静一郎 ;

古谷雅 .

中国专利 :CN115388794A ,2022-11-25

[3]

光学测定方法、光学测定装置及光学测定程序 [P].

稻也大辅 .

中国专利 :CN113390353A ,2021-09-14

[4]

光学测定装置及光学测定方法 [P].

近藤房宣 ;

岩田直树 ;

松村朋和 ;

竹下照雄 .

中国专利 :CN115398210A ,2022-11-25

[5]

光学测定装置及光学测定方法 [P].

近藤房宣 ;

岩田直树 ;

松村朋和 ;

竹下照雄 .

日本专利 :CN115398210B ,2025-11-07

[6]

光学测定装置及光学测定方法 [P].

竹下照雄 ;

松村朋和 ;

近藤房宣 ;

岩田直树 .

中国专利 :CN112912715A ,2021-06-04

[7]

光学测定装置及光学测定方法 [P].

岩田直树 ;

近藤房宣 ;

松村朋和 ;

竹下照雄 .

中国专利 :CN115380204A ,2022-11-22

[8]

光学测定装置及光学测定方法 [P].

竹下照雄 ;

松村朋和 ;

近藤房宣 ;

岩田直树 .

日本专利 :CN112912715B ,2024-08-09

[9]

光学式测定装置 [P].

松宫贞行 ;

冈部宪嗣 ;

下川清治 .

中国专利 :CN101285675B ,2008-10-15

[10]

光学式测定装置 [P].

今泉良一 ;

林拓实 ;

成宫浩平 .

日本专利 :CN118242976A ,2024-06-25

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