传感器系统的检查装置及检查方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201980047948.3
申请日
2019-07-11
公开(公告)号
CN112437880A
公开(公告)日
2021-03-02
发明(设计)人
渡边重之 绵野裕一 冈村俊亮
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01N21958
IPC分类号
G01M1100 G01S7497
代理机构
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
丁紫玉
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
传感器系统及检查方法 [P]. 
渡边重之 ;
绵野裕一 .
中国专利 :CN110497861A ,2019-11-26
[2]
检查装置和检查方法及检查装置用传感器 [P]. 
羽森宽 ;
山冈秀嗣 ;
石冈圣悟 .
中国专利 :CN101107537A ,2008-01-16
[3]
检查装置及检查方法暨检查装置用传感器 [P]. 
西本泰邦 ;
村上真一 ;
山冈秀嗣 ;
石冈圣悟 .
中国专利 :CN101023317A ,2007-08-22
[4]
分析装置、传感器检查装置及检查方法 [P]. 
关本慎二郎 .
中国专利 :CN102628832B ,2012-08-08
[5]
位移传感器的检查装置及其检查方法 [P]. 
山田亮太 .
中国专利 :CN106716096A ,2017-05-24
[6]
磁传感器的检查装置和检查方法 [P]. 
铃木隆嗣 .
中国专利 :CN102955144A ,2013-03-06
[7]
磁传感器及检查装置 [P]. 
白鸟聪志 ;
岩崎仁志 ;
喜喜津哲 ;
东祥弘 ;
黑崎义成 .
日本专利 :CN114594415B ,2025-01-28
[8]
磁传感器及检查装置 [P]. 
白鸟聪志 ;
岩崎仁志 ;
喜喜津哲 ;
东祥弘 ;
黑崎义成 .
中国专利 :CN114594415A ,2022-06-07
[9]
利用图像传感器的表面缺陷检查装置及检查方法 [P]. 
尹永烨 .
中国专利 :CN112469992A ,2021-03-09
[10]
检查装置用传感器和检查装置 [P]. 
藤井达久 ;
门田和浩 ;
笠井干也 ;
石冈圣悟 ;
山冈秀嗣 .
中国专利 :CN100343682C ,2004-11-10